La plataforma óptica AFM

El OmegaScope es una solución llave en mano de última generación que combina óptica y AFM de investigación de rango múltiple de ultra resolución.

El OmegaScope AFM es un instrumento de investigación avanzada que proporciona un camino para los investigadores en espectroscopía y fotónica. Está disponible en configuraciones de reflexión que proporcionan acceso óptico superior y lateral directo. La flexibilidad de la plataforma OmegaScope ofrece posibilidades casi infinitas en la correlación de espectroscopías de alta resolución espacial (Raman, Fotoluminiscencia, Fluorescencia) y modos de imagen AFM.

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• Sin interferencia del láser de AFM con el láser de excitación Raman.
• Camino de acceso directo al cantilever.
• Ajuste fácil del cantilever, rápido y repetible.
• Ajuste automático del sistema de registro AFM
• Escaneo rápido
• Estabilidad sin igual resistente a vibración, estabilidad acústica, escáner rápido a altas frecuencias de resonancia.
• Extremadamente fácil sustitución de muestras.
• Acceso óptico superior y lateral.
• Escáneres de objetivos laterales y superiores
• Medición DFM incorporada, como estándar, hecha con PLL.
• Opciones STM, AFM conductivo y SNOM.

Descubra un mundo completamente nuevo de información con el espectrómetro de emisión óptica de descarga luminiscente GD-OES.

El GD-Profiler 2 ™ proporciona un análisis rápido y simultáneo de todos los elementos de interés, incluyendo gases como nitrógeno, oxígeno, hidrógeno y cloro.

Es la herramienta ideal para estudios de procesos y caracterización de películas delgadas y gruesas. Equipado con una fuente de RF que puede operar en modo pulsado para el análisis de muestras frágiles.

El campo de aplicaciones del GD-Profiler 2 ™ va desde estudios de corrosión hasta control de proceso de recubrimiento PVD, incluyendo películas delgadas de celdas fotovoltaicas y control de calidad en fabricación de LEDs e investigación avanzada de materiales en Universidades, así como en laboratorios de Investigación Industrial. también aplica para el análisis elemental en la industria de metales.

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• Generador de RF estándar de Clase E optimizado para tener estabilidad y  forma del cráter, que hace posible un análisis de superficie real.
• El Generador RF se puede pulsar con adquisición sincronizada para obtener resultados óptimos en muestras frágiles.
• El uso de una fuente de RF permite el análisis de capas y materiales convencionales y/o no convencionales. así como conductores y no conductores de electricidad.
• Su óptica simultánea proporciona una cobertura espectral completa de 110 a 800 nm, incluido el ultravioleta profundo para el  análisis de H, O, C, N y Cl.
• Rejillas o Grating de difracción originales de HORIBA aseguran el mayor rendimiento y resolución de luz para una máxima eficiencia y sensibilidad.
• Sistema de detección HDD patentada que proporciona velocidad y sensibilidad en la detección sin comprometer el desempeño del sistema.
• Medición en línea de la profundidad del cráter y la tasa de erosión con interferómetro incorporado patentado.
• Compartimento de muestras de fácil acceso que ofrece mucho espacio para manipular las muestras.
• Potente software QUANTUM ™ con herramienta de redacción de informes Tabler.
• Puntero láser CenterLite (patente pendiente) para la carga precisa de la muestra.
• Opción de monocromador disponible solo en HORIBA, proporciona la herramienta perfecta para aumentar la flexibilidad del instrumento agregando "n + 1" elementos. 

Horiba Scientific ofrece soluciones completas de espectroscopia Raman para mediciones analíticas, investigación Raman, UV Raman, QC / QA y aplicaciones industriales Raman.

Estos incluyen microscopios Raman, sistemas híbridos Raman (como AFM-Raman), sistemas  modulares Raman, analizadores de transmisión Raman, espectrómetros Raman dedicados de proceso in situ e instrumentos miniaturizados Raman, para fabricación de OEM de gran volumen. producción en todo el mundo.

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APLICACIONES PRINCIPALES

• Microfotoluminiscencia.
• Nanotubos de Carbono.
• Mapeo de Nanomateriales.
• Fotoluminiscencia y Raman de diodos AlGaAs / InGaAs.
• Semiconductores.
• Fotoluminiscencia en Baja Temperatura

AFM autónomo avanzado.

El SmartSPM Scanning Probe Microscope, es el primer sistema 100% automatizado que ofrece su tecnología de vanguardia de mediciones ultrarrápidas, metrológicas y de alta resolución para la investigación en materiales más avanzada a nanoescala en todos los modos AFM y STM.

Con el SmartSPM aumentar desde áreas tan grandes como 100 µm, hasta la resolución atómica es una realidad. Su diseño ha sido especialmente desarrollado para poder integrarse sin problemas con espectroscopías ópticas (técnicas como  SNOM, Raman, Fotoluminiscencia y TERS / SERS).

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• Funcionamiento Automatizado para extremada facilidad de uso.
• Alineación de láser totalmente automatizada
• El cambio de puntas y/o Cantilevers nunca ha sido tan fácil.
• Configuración completamente automatizada para los modos AFM más comunes.
• Ajuste del sistema extremadamente rápido antes de iniciar las mediciones.
• Resolución / Estabilidad / Precisión excepcionales
• Escaneo rápido; las frecuencias de resonancia del escáner> 7 kHz en XY y> 15 kHz en Z son las más altas de la industria AFM actual.
• Todos los modos SPM incluidos, más nanolitografía sin unidades ni costos adicionales.
• Flexibilidad para actualizar a AFM-Raman.

Técnica de perfilado de profundidad ultrarrápida, sensible y de alta resolución.

Plasma Profiling TOFMS plantea las necesidades de los científicos de materiales en una amplia gama de áreas de aplicación. PP-TOFMS proporciona una rápida distribución de profundidad elemental de cualquier material inorgánico.

La velocidad y la facilidad de uso de PP-TOFMS permiten reducir el tiempo de optimización de los procesos de crecimiento, ya que muchos investigadores se esfuerzan por reducir el tiempo desde el descubrimiento hasta la aplicación de nuevos materiales. La cobertura total simultánea de TOFMS disponible para cada punto de profundidad permite la detección de contaminación no sospechada. Esto es clave para el análisis de fallas y la optimización de procesos de película delgada que tienden a no basarse en métodos de grado ultra alto (es decir, impresión por chorro de tinta).

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• Compacto.
• Rápido.
• Fácil de Usar.
• Aplicación general en ciencia de materiales.
• Multi usuario.

AFM-Raman para imágenes físicas y químicas.

Sistema totalmente integrado, basado en el microscopio AFM de última generación SmartSPM y el micro espectrómetro Raman totalmente automatizado LabRAM HR Evolution.

El LabRAM HR Evo Nano ofrece una automatización completa, compatibilidad versátil y rendimiento excepcional.

El LabRAM HR Evo Nano brinda facilidad de uso y extrema flexibilidad para las aplicaciones más exigentes. Con capacidades que van desde el ultravioleta profundo al infrarrojo, alta resolución espectral y un conjunto extendido de opciones y accesorios, el HR Evo Nano es ideal para desempeñarse en cualquier desafío de investigación.

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• Mediciones macro, micro y a nano escala en la misma plataforma.
• Operación totalmente automatizada, comience a medir en minutos, no en horas.
• Detección Raman superior, inferior  y oblicua para una resolución y rendimiento óptimos.
• Mediciones co-localizadas y Tip-Enhanced measurements (Raman and Photoluminescence).
• Máximo rendimiento en resolución espectral
• Múltiples Gratings con conmutación automatizada, amplio rango espectral para Raman y PL.
• Resolución espectroscópica a nanoescala (< 10 nm) a través Tip Enhanced.
• Espectroscopias ópticas (Raman y fotoluminiscencia).
• Numerosos modos SPM,que incluyen: AFM, modos conductores y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celda líquida y entorno electroquímico, más el mapeo químico a través de TERS / TEPL.
• Control total de los 2 instrumentos a través de una única estación de trabajo y un potente software de control.
• SPM y Espectrómetro se pueden operar de forma simultánea o independiente.
• Escáner AFM de alta frecuencia de resonancia para inmunidad al Ruido.
• Rendimiento excepcional del sistema, sin necesidad de aislamiento de vibraciones activo.

AFM-Raman para imágenes físicas y químicas.

Sistema totalmente integrado basado en el microscopio AFM de última generación SmartSPM y el micro espectrómetro Raman XploRA Plus.

Es un modelo compacto, totalmente automatizado y muy fácil de usar, el XploRA Nano concentra el poder de AFM-Raman en un paquete asequible pero con todas las funciones, lo que hace que las imágenes TERS sean una realidad para todos. El sistema garantiza TERS para todos.

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• Las mediciones Macro, Micro y a Nanoescala en la misma plataforma.
• Operación totalmente automatizada, comience a medir en minutos, no en horas.
• Alta resolución espacial, etapas de mapeo automatizadas, opciones completas de visualización de microscopio.
• Detección Raman Superior, inferior y oblicua para resolución y rendimiento óptimos tanto en mediciones co-localizadas como Tip-Enhanced measurements (Raman and Photoluminescence)
• Máximo rendimiento en resolución espectral.
• Múltiples Gratings con conmutación automatizada, amplio rango espectral para Raman y PL.
• Resolución espectroscópica a nanoescala (<10 nm) mediante Tip-Enhanced measurements (Raman and Photoluminescence)
• Numerosos modos SPM que incluyen: AFM, modos conductores y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celda líquida y entorno electroquímico,más el mapeo químico a través de TERS / TEPL.
• Control total de los 2 instrumentos a través de una única estación de trabajo y un potente software de control.
• SPM y espectrómetro se pueden operar de forma simultánea o independiente.
• Escáneres AFM de alta frecuencia de resonancia, lejos de ruidos.
• Rendimiento excepcional del sistema, sin necesidad de aislamiento de vibraciones activo

AFM y microscopía de luz invertida.

El microscopio de fuerza atómica CombiScope (AFM) es un instrumento de investigación avanzada que proporciona la ruta de entrada para los investigadores en biología, espectroscopía y fotónica.

Si trabaja con muestras transparentes, ya sea en aire o en líquido, a nanoescala y la investigación de propiedades nano ópticas (de campo cercano), el CombiScope es la solución adecuada para usted. 

Combina a la perfección la microscopía óptica invertida y la de fuerza atómica, liberando toda la potencia de ambas técnicas. Proporcionando al usuario  automatización de ajustes y medición, así como alta resolución velocidad. Además, se puede acoplar fácilmente a cualquier espectrómetro Raman de HORIBA.

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• Productividad extraordinaria y fácil manejo.
• Escáner de nivel superior
• Láser AFM de 1300 nm
• Integración con óptica de la más alta calidad
• Soluciones para trabajar con líquidos.
• Todos los modos de operación en un solo instrumento.