EMISIÓN ÓPTICA GD-OES

HORIBA Scientific proporciona los espectrómetros para análisis superficial, perfiles de profundidad y el análisis de composición tanto de muestras conductoras como no conductoras, esto gracias a la fuente de radiofrecuencia de descarga luminiscente (RF-GD-OES). RF Glow Discharge Optical Emission Spectrometry (GD-OES) es una técnica reconocida para aplicaciones que involucran análisis superficial, la interacción de elementos en materiales y recubrimientos, así como la composición química de los materiales. Permite obtener perfiles de profundidad de múltiples elementos, incluyendo gases con excelente resolución de profundidad y sensibilidad.

El GD-Profiler 2™ proporciona rápido análisis y simultáneo de todos los elementos de interés, incluyendo los gases de nitrógeno, oxígeno, hidrógeno y Cloro. Es una herramienta ideal para caracterización de películas delgadas y estudios de proceso.


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GD-Profiler 2™

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Descubra un mundo completamente nuevo de información con el espectrómetro de emisión óptica de descarga luminiscente GD-OES.

El GD-Profiler 2 ™ proporciona un análisis rápido y simultáneo de todos los elementos de interés, incluyendo gases como nitrógeno, oxígeno, hidrógeno y cloro.

Es la herramienta ideal para estudios de procesos y caracterización de películas delgadas y gruesas. Equipado con una fuente de RF que puede operar en modo pulsado para el análisis de muestras frágiles.

El campo de aplicaciones del GD-Profiler 2 ™ va desde estudios de corrosión hasta control de proceso de recubrimiento PVD, incluyendo películas delgadas de celdas fotovoltaicas y control de calidad en fabricación de LEDs e investigación avanzada de materiales en Universidades, así como en laboratorios de Investigación Industrial. también aplica para el análisis elemental en la industria de metales.

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  • Generador de RF estándar de Clase E optimizado para tener estabilidad y  forma del cráter, que hace posible un análisis de superficie real.
  • El Generador RF se puede pulsar con adquisición sincronizada para obtener resultados óptimos en muestras frágiles.
  • El uso de una fuente de RF permite el análisis de capas y materiales convencionales y/o no convencionales. así como conductores y no conductores de electricidad.
  • Su óptica simultánea proporciona una cobertura espectral completa de 110 a 800 nm, incluido el ultravioleta profundo para el  análisis de H, O, C, N y Cl.
  • Rejillas o Grating de difracción originales de HORIBA aseguran el mayor rendimiento y resolución de luz para una máxima eficiencia y sensibilidad.
  • Sistema de detección HDD patentada que proporciona velocidad y sensibilidad en la detección sin comprometer el desempeño del sistema.
  • Medición en línea de la profundidad del cráter y la tasa de erosión con interferómetro incorporado patentado.
  • Compartimento de muestras de fácil acceso que ofrece mucho espacio para manipular las muestras.
  • Potente software QUANTUM ™ con herramienta de redacción de informes Tabler.
  • Puntero láser CenterLite (patente pendiente) para la carga precisa de la muestra.
  • Opción de monocromador disponible solo en HORIBA, proporciona la herramienta perfecta para aumentar la flexibilidad del instrumento agregando "n + 1" elementos. 

Plasma Profiling TOFMS

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Técnica de perfilado de profundidad ultrarrápida, sensible y de alta resolución.

Plasma Profiling TOFMS plantea las necesidades de los científicos de materiales en una amplia gama de áreas de aplicación. PP-TOFMS proporciona una rápida distribución de profundidad elemental de cualquier material inorgánico.

La velocidad y la facilidad de uso de PP-TOFMS permiten reducir el tiempo de optimización de los procesos de crecimiento, ya que muchos investigadores se esfuerzan por reducir el tiempo desde el descubrimiento hasta la aplicación de nuevos materiales. La cobertura total simultánea de TOFMS disponible para cada punto de profundidad permite la detección de contaminación no sospechada. Esto es clave para el análisis de fallas y la optimización de procesos de película delgada que tienden a no basarse en métodos de grado ultra alto (es decir, impresión por chorro de tinta).

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  • Compacto.
  • Rápido.
  • Fácil de Usar.
  • Aplicación general en ciencia de materiales.
  • Multi usuario.