FLUORESCENCIA DE RAYOS X - TXRF

TXRF se basa en los mismos principios del EDXRF sin embargo presenta una diferencia significativa. En contraste con EDXRF, donde el haz primario golpea la muestra en un ángulo de 45°, el TXRF usa un ángulo de vista de unos pocos miliradianes.

Debido a esta incidencia el haz primario es reflejado totalmente esto hace que la absorción se evite en gran medida y la dispersión asociada se reduzca considerablemente, disminuyendo también el ruido de fondo, el ruido de fondo también se ve reducido por la mínima cantidad de muestra que es usada para el análisis de 5 a 100 microlitros de la sustancia a analizar disuelta en un solvente apropiado, sobre un porta muestra de sílica, al evaporarse el solvente deja una película de unas pocos nanómetros sobre el porta muestra. En general la técnica Analítica es no destructiva y es apropiada para sólidos, líquidos y aleaciones.

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TX 2000

TX 2000

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El TX 200 es el espectrómetro de fluorescencia de RX (TXRF, Total Reflection X-Ray Fluorescence).

Con las mejores características para el análisis de trazas y ultra trazas en muestras con multi-elementos, la técnica de TXRF minimiza o elimina el efecto de matriz, permitiendo llevar los límites de detección hasta los niveles de ppbs desde sodio Na hasta plutonio Pu.

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  • Sin efecto de matriz
  • Sin curvas de calibración dependientes de la matriz
  • Límites de detección mejorados (LOD) hasta ng/g o menos
  • Cantidad mínima de muestra
  • Capacidades de microanálisis
  • Los motores paso a paso con codificadores ópticos garantizan valores angulares extremadamente precisos.
  • Modo de excitación mejorado mediante la selección de la energía monocromada más adecuada (W-La / W-Lb / Mo-Ka) proporcionada por la combinación de tubo de rayos X de doble ánodo MO / W y multicapa W / Si. También se pueden monocromar otros ánodos de rayos X.
  • Detector de deriva de silicio refrigerado por Peltier con una resolución de energía mejor que 133eV
  • Distancia mínima entre la muestra y el detector.