OmegaScope
Referencia: OmegaScope
La plataforma óptica AFM
El OmegaScope es una solución llave en mano de última generación que combina óptica y AFM de investigación de rango múltiple de ultra resolución.
El OmegaScope AFM es un instrumento de investigación avanzada que proporciona un camino para los investigadores en espectroscopía y fotónica. Está disponible en configuraciones de reflexión que proporcionan acceso óptico superior y lateral directo. La flexibilidad de la plataforma OmegaScope ofrece posibilidades casi infinitas en la correlación de espectroscopías de alta resolución espacial (Raman, Fotoluminiscencia, Fluorescencia) y modos de imagen AFM.
- Sin interferencia del láser de AFM con el láser de excitación Raman.
- Camino de acceso directo al cantilever.
- Ajuste fácil del cantilever, rápido y repetible.
- Ajuste automático del sistema de registro AFM
- Escaneo rápido
- Estabilidad sin igual resistente a vibración, estabilidad acústica, escáner rápido a altas frecuencias de resonancia.
- Extremadamente fácil sustitución de muestras.
- Acceso óptico superior y lateral.
- Escáneres de objetivos laterales y superiores
- Medición DFM incorporada, como estándar, hecha con PLL.
- Opciones STM, AFM conductivo y SNOM.
OmegaScope
La plataforma óptica AFM
El OmegaScope es una solución llave en mano de última generación que combina óptica y AFM de investigación de rango múltiple de ultra resolución.
El OmegaScope AFM es un instrumento de investigación avanzada que proporciona un camino para los investigadores en espectroscopía y fotónica. Está disponible en configuraciones de reflexión que proporcionan acceso óptico superior y lateral directo. La flexibilidad de la plataforma OmegaScope ofrece posibilidades casi infinitas en la correlación de espectroscopías de alta resolución espacial (Raman, Fotoluminiscencia, Fluorescencia) y modos de imagen AFM.
- Sin interferencia del láser de AFM con el láser de excitación Raman.
- Camino de acceso directo al cantilever.
- Ajuste fácil del cantilever, rápido y repetible.
- Ajuste automático del sistema de registro AFM
- Escaneo rápido
- Estabilidad sin igual resistente a vibración, estabilidad acústica, escáner rápido a altas frecuencias de resonancia.
- Extremadamente fácil sustitución de muestras.
- Acceso óptico superior y lateral.
- Escáneres de objetivos laterales y superiores
- Medición DFM incorporada, como estándar, hecha con PLL.
- Opciones STM, AFM conductivo y SNOM.