Explorer
El Explorer es un Difractómetro Multipropósito de alta resolución en configuración Theta / Theta.
Gracias a sus motores de accionamiento directo, ofrece el mejor rendimiento en muchas áreas analíticas, desde el análisis de fase hasta la determinación de propiedades microestructurales en materiales de película delgada.
Su modularidad y la amplia gama de accesorios y accesorios disponibles, permite al EXPLORER realizar mediciones en diferentes configuraciones: difracción de rayos X en polvo tradicional (XPD), reflectometría (XRR), difracción de rayos X de rasantes (GIXRD), Difracción de rayos X de alta resolución (HRXRD), fluorescencia total de rayos X (TXRF), estrés residual y difracción de rayos X de textura.
- Identificación y cuantificación de la fase cristalina de rutina
- Tamaño de cristal: deformación reticular y cálculo de cristalinidad.
- Cribado de polimorfos y análisis de estructura cristalina.
- Estrés residual y cuantificación de austenita retenida.
- Películas delgadas, perfiles de profundidad y análisis no ambientales.
- Monitorización de transición de fase, textura y orientaciones preferidas.
- La óptica permite cambiar entre enfoque Bragg-Brentano, y geometría de haz paralelo utilizando monocromadores de espejo de Johansson o parabólico.
- Estudios de reflectometría de alta resolución para caracterizar el espesor de capa (de 1 a 500 nm con precisión mejor que el 1%), densidad (con una precisión mejor que ± 0.03 g / cm3), rugosidad de superficie e interfaz (de 0 a 5 nm con una precisión mejor que ± 0,1 nm).
- Las mediciones en ángulos bajos y un accesorio de película delgada para geometría de haz paralelo permiten el estudio de películas delgadas y multicapas.
- El acoplamiento entre un monocromador de espejo parabólico y un cristal de canal cortado montado en el haz incidente permite realizar un haz paralelo monocromático de alta intensidad y baja divergencia, apto para mediciones de alta resolución.