X-ray Analytical Microscope.

La evolución de μXRF!,  con sensibilidad mejorada y nueva tecnología de imagen, es una combinación que logra el análisis a alta velocidad de muchos materiales en una sola unidad.

Ver Más

• Operación de análisis simple sin necesidad de preparaciones complejas y análisis elemental no destructivo.
• Permite acceder rápidamente a los puntos de medición  a través de una observación óptica de alta precisión, incluso en el rango microscópico.
• Un  software muy completo con una gran variedad de herramientas   para el  análisis de imágenes.

La plataforma óptica AFM

El OmegaScope es una solución llave en mano de última generación que combina óptica y AFM de investigación de rango múltiple de ultra resolución.

El OmegaScope AFM es un instrumento de investigación avanzada que proporciona un camino para los investigadores en espectroscopía y fotónica. Está disponible en configuraciones de reflexión que proporcionan acceso óptico superior y lateral directo. La flexibilidad de la plataforma OmegaScope ofrece posibilidades casi infinitas en la correlación de espectroscopías de alta resolución espacial (Raman, Fotoluminiscencia, Fluorescencia) y modos de imagen AFM.

Ver Más

• Sin interferencia del láser de AFM con el láser de excitación Raman.
• Camino de acceso directo al cantilever.
• Ajuste fácil del cantilever, rápido y repetible.
• Ajuste automático del sistema de registro AFM
• Escaneo rápido
• Estabilidad sin igual resistente a vibración, estabilidad acústica, escáner rápido a altas frecuencias de resonancia.
• Extremadamente fácil sustitución de muestras.
• Acceso óptico superior y lateral.
• Escáneres de objetivos laterales y superiores
• Medición DFM incorporada, como estándar, hecha con PLL.
• Opciones STM, AFM conductivo y SNOM.

ICP-OES asequible de alto rendimiento.

HORIBA Scientific desarrolla y fabrica espectrómetros ICP-OES de alto rendimiento desde hace más de 35 años. La nueva Ultima Expert LT proporciona muy alto rendimiento a un precio asequible para laboratorios con muestras y aplicaciones desafiantes.

Integra un diseño óptico Jobin Yvon de alta eficiencia capaz de lograr el mejor rendimiento óptimo para cualquier tipo de muestras y matrices. 

El Ultima Expert LT es potencializado por el poderoso software NEO, que presenta una gran variedad de funcionalidades analíticas para un control y análisis personalizados.

La robustez de Ultima Expert LT lo hace ideal para aplicaciones comunes en minería, fabricación de productos químicos, producción de sal, metales de desgaste en análisis de aceites, producción petroquímica y metalúrgica etc.

Ver Más

• Visualización radial y visualización de plasma total que proporcionan los límites de detección más bajos en espectrometría ICP-OES
• Característica única de gas envolvente para una estabilidad inigualable en muestras con alto contenido de sólidos disueltos totales, hasta un 30% de sólidos disueltos
• Cobertura de longitud de onda continua de 120 a 800 nm con opción de UV lejano para mejorar la sensibilidad para el análisis de halógenos o longitudes de onda alternativas
• Resolución espectral inigualable que minimiza las interferencias con <5 pm para longitudes de onda en el rango de 120-320 nm

Analizador de fluorescencia de rayos X.

HORIBA ha vendido la serie XGT-WR de analizadores EDXRF durante muchos años, proporcionando mediciones de detección de muestras que contienen elementos peligrosos como Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Sb, As para RoHS, ELV y Cl en  aplicaciones libres de halógenos.

HORIBA ha desarrollado ahora el nuevo analizador MESA-50 EDXRF, basado en su larga experiencia en los requisitos y necesidades de los clientes. El MESA-50 proporciona un funcionamiento sencillo y excelente rendimiento, incluye tres diámetros de análisis, adecuados para diferentes muestras, desde cables delgados y piezas electrónicas hasta muestras a granel. 

Ver Más

• Rápido:

El de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporcionando mayor sensibilidad para el análisis de alto rendimiento

• Pequeño:

De tamaño reducido y liviano

Fuente de alimentación con batería interna.

• Sencillo:

Mantenimiento de rutina reducido. (No requiere LN2) ni bomba de vacío, proceso de medición sencillo e intuitivo. 

• Inteligente:

Interfaces de usuario multilenguaje.

Herramienta de gestión de datos Excel®

• Seguro:

No se preocupe por las fugas de rayos X.

AFM autónomo avanzado.

El SmartSPM Scanning Probe Microscope, es el primer sistema 100% automatizado que ofrece su tecnología de vanguardia de mediciones ultrarrápidas, metrológicas y de alta resolución para la investigación en materiales más avanzada a nanoescala en todos los modos AFM y STM.

Con el SmartSPM aumentar desde áreas tan grandes como 100 µm, hasta la resolución atómica es una realidad. Su diseño ha sido especialmente desarrollado para poder integrarse sin problemas con espectroscopías ópticas (técnicas como  SNOM, Raman, Fotoluminiscencia y TERS / SERS).

Ver Más

• Funcionamiento Automatizado para extremada facilidad de uso.
• Alineación de láser totalmente automatizada
• El cambio de puntas y/o Cantilevers nunca ha sido tan fácil.
• Configuración completamente automatizada para los modos AFM más comunes.
• Ajuste del sistema extremadamente rápido antes de iniciar las mediciones.
• Resolución / Estabilidad / Precisión excepcionales
• Escaneo rápido; las frecuencias de resonancia del escáner> 7 kHz en XY y> 15 kHz en Z son las más altas de la industria AFM actual.
• Todos los modos SPM incluidos, más nanolitografía sin unidades ni costos adicionales.
• Flexibilidad para actualizar a AFM-Raman.

High resolution, high sensitivity and high stability ICP-OES.

Última Expert posee un diseño óptico “Jobin Yvon” de alta eficiencia, capaz de alcanzar un rendimiento óptimo para una gran variedad de muestras y matrices.

Incluye un software de análisis con una variedad de funcionalidades, que permiten tener mayor control además de poder personalizarlo si se desea. 

Es el instrumento ideal para las aplicaciones a la minería, fabricación de químicos, la producción de sal, metales de desgaste de  en el análisis de aceites, la producción petroquímica, metalúrgica y refinado de metales preciosos.  

Ver Más

• El Ultima Expert ofrece el rendimiento más alto del mercado, es especialmente diseñado para manejar las    aplicaciones más desafiantes.
• Su diseño óptico de alta calidad integra una rejilla holográfica de alta densidad y una distancia focal de un metro asociada a la característica única de Vista total del plasma, ofrece la resolución más alta del mercado, junto a una altísima sensibilidad y estabilidad especial para las aplicaciones más exigentes.
• Visualización radial y total  del plasma que proporcionan los límites de detección más bajos en espectrometría ICP OES.
• Característica única de gas envolvente para una estabilidad inigualable en muestras con alto contenido de sólidos disueltos totales, incluso con hasta un 30% de sólidos disueltos.
• Rango Espectral de 120 a 800 nm con opción de UV lejano para mejorar la sensibilidad para el análisis de halógenos o  longitudes de onda alternativas.
• Resolución espectral inigualable que minimiza las interferencias con <5 pm para longitudes de onda en el rango de    120-320 nm.
• Sistema de rejilla dual opcional, que ofrece una resolución de <6pm hasta 450 nm para matrices ricas en líneas como elementos de tierras raras, aplicaciones geológicas o de metales preciosos.
• Dispositivo HiStab único para lograr una estabilidad excepcional para aplicaciones exigentes.
• Detección HDD® patentada que proporciona sub-ppb a nivel de porcentaje en un solo análisis
• Rango dinámico de hasta 10 órdenes de magnitud usando Image
• Policromador opcional de 0,5m o 1 m para análisis simultáneo.

Analizador de fluorescencia de rayos X

Con el fin de cumplir con las  RoHS/ELV y el análisis de  elementos peligrosos, HORIBA en el  2012, lanzó el  analizador de fluorescencia de rayos X intuitivo MESA-50.

El cual se hizo muy popular en muy poco tiempo, y en 2013 se agregó a la serie un nuevo tipo de MESA-50 con una cámara de muestra muy amplia que permite el análisis de muestras de gran tamaño. 

El MESA-50K está equipado con el sofisticado detector libre de LN2, la función de análisis As / Sb y de película multicapa FPM disponibles como opciones.

Ver Más

• Rápido:

El de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporcionando mayor sensibilidad para el análisis de alto rendimiento

• Pequeño:

De tamaño reducido y liviano

Fuente de alimentación con batería interna.

• Sencillo:

Mantenimiento de rutina reducido. (No requiere LN2) ni bomba de vacío, proceso de medición sencillo e intuitivo. 

• Inteligente:

Interfaces de usuario multilenguaje.

Herramienta de gestión de datos Excel®

• Seguro:

No se preocupe por las fugas de rayos X.

AFM-Raman para imágenes físicas y químicas.

Sistema totalmente integrado, basado en el microscopio AFM de última generación SmartSPM y el micro espectrómetro Raman totalmente automatizado LabRAM HR Evolution.

El LabRAM HR Evo Nano ofrece una automatización completa, compatibilidad versátil y rendimiento excepcional.

El LabRAM HR Evo Nano brinda facilidad de uso y extrema flexibilidad para las aplicaciones más exigentes. Con capacidades que van desde el ultravioleta profundo al infrarrojo, alta resolución espectral y un conjunto extendido de opciones y accesorios, el HR Evo Nano es ideal para desempeñarse en cualquier desafío de investigación.

Ver Más

• Mediciones macro, micro y a nano escala en la misma plataforma.
• Operación totalmente automatizada, comience a medir en minutos, no en horas.
• Detección Raman superior, inferior  y oblicua para una resolución y rendimiento óptimos.
• Mediciones co-localizadas y Tip-Enhanced measurements (Raman and Photoluminescence).
• Máximo rendimiento en resolución espectral
• Múltiples Gratings con conmutación automatizada, amplio rango espectral para Raman y PL.
• Resolución espectroscópica a nanoescala (< 10 nm) a través Tip Enhanced.
• Espectroscopias ópticas (Raman y fotoluminiscencia).
• Numerosos modos SPM,que incluyen: AFM, modos conductores y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celda líquida y entorno electroquímico, más el mapeo químico a través de TERS / TEPL.
• Control total de los 2 instrumentos a través de una única estación de trabajo y un potente software de control.
• SPM y Espectrómetro se pueden operar de forma simultánea o independiente.
• Escáner AFM de alta frecuencia de resonancia para inmunidad al Ruido.
• Rendimiento excepcional del sistema, sin necesidad de aislamiento de vibraciones activo.

AFM-Raman para imágenes físicas y químicas.

Sistema totalmente integrado basado en el microscopio AFM de última generación SmartSPM y el micro espectrómetro Raman XploRA Plus.

Es un modelo compacto, totalmente automatizado y muy fácil de usar, el XploRA Nano concentra el poder de AFM-Raman en un paquete asequible pero con todas las funciones, lo que hace que las imágenes TERS sean una realidad para todos. El sistema garantiza TERS para todos.

Ver Más

• Las mediciones Macro, Micro y a Nanoescala en la misma plataforma.
• Operación totalmente automatizada, comience a medir en minutos, no en horas.
• Alta resolución espacial, etapas de mapeo automatizadas, opciones completas de visualización de microscopio.
• Detección Raman Superior, inferior y oblicua para resolución y rendimiento óptimos tanto en mediciones co-localizadas como Tip-Enhanced measurements (Raman and Photoluminescence)
• Máximo rendimiento en resolución espectral.
• Múltiples Gratings con conmutación automatizada, amplio rango espectral para Raman y PL.
• Resolución espectroscópica a nanoescala (<10 nm) mediante Tip-Enhanced measurements (Raman and Photoluminescence)
• Numerosos modos SPM que incluyen: AFM, modos conductores y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celda líquida y entorno electroquímico,más el mapeo químico a través de TERS / TEPL.
• Control total de los 2 instrumentos a través de una única estación de trabajo y un potente software de control.
• SPM y espectrómetro se pueden operar de forma simultánea o independiente.
• Escáneres AFM de alta frecuencia de resonancia, lejos de ruidos.
• Rendimiento excepcional del sistema, sin necesidad de aislamiento de vibraciones activo

AFM y microscopía de luz invertida.

El microscopio de fuerza atómica CombiScope (AFM) es un instrumento de investigación avanzada que proporciona la ruta de entrada para los investigadores en biología, espectroscopía y fotónica.

Si trabaja con muestras transparentes, ya sea en aire o en líquido, a nanoescala y la investigación de propiedades nano ópticas (de campo cercano), el CombiScope es la solución adecuada para usted. 

Combina a la perfección la microscopía óptica invertida y la de fuerza atómica, liberando toda la potencia de ambas técnicas. Proporcionando al usuario  automatización de ajustes y medición, así como alta resolución velocidad. Además, se puede acoplar fácilmente a cualquier espectrómetro Raman de HORIBA.

Ver Más

• Productividad extraordinaria y fácil manejo.
• Escáner de nivel superior
• Láser AFM de 1300 nm
• Integración con óptica de la más alta calidad
• Soluciones para trabajar con líquidos.
• Todos los modos de operación en un solo instrumento.