Fuente de luz forense.

El CS-16-500 fue diseñado para aquellos departamentos que prefieren las lámparas de xenón de 500 W a las lámparas de halógenas debido a la salida de infrarrojos adicional para documentos falsificados.

Es lo suficientemente pequeño para llevarlo a la escena del crimen pero lo suficientemente versátil como para caber cómodamente en el laboratorio. Ell CS-16-500 cubre el rango  UV - VIS y también está disponible con IR como opción. La vida útil de la lámpara es igual a la de las lámparas de halógenas de 400 W, es decir, 1500 horas.

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• Facilidad de uso
• Opere fácilmente con una mano
• Capacidad de infrarrojos.

EQUIPOS

• Forensic Light Sources
• Reflective Ultra-Violet Imaging System [RUVIS]
• Fingerprint imaging systems and software
• Automated Fingerprint / Palmprint Identification Systems [AFIS/APIS]
• Raman microscopes
• X-Ray Fluorescence 

X-ray Analytical Microscope.

La evolución de μXRF!,  con sensibilidad mejorada y nueva tecnología de imagen, es una combinación que logra el análisis a alta velocidad de muchos materiales en una sola unidad.

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• Operación de análisis simple sin necesidad de preparaciones complejas y análisis elemental no destructivo.
• Permite acceder rápidamente a los puntos de medición  a través de una observación óptica de alta precisión, incluso en el rango microscópico.
• Un  software muy completo con una gran variedad de herramientas   para el  análisis de imágenes.

Descubra un mundo completamente nuevo de información con el espectrómetro de emisión óptica de descarga luminiscente GD-OES.

El GD-Profiler 2 ™ proporciona un análisis rápido y simultáneo de todos los elementos de interés, incluyendo gases como nitrógeno, oxígeno, hidrógeno y cloro.

Es la herramienta ideal para estudios de procesos y caracterización de películas delgadas y gruesas. Equipado con una fuente de RF que puede operar en modo pulsado para el análisis de muestras frágiles.

El campo de aplicaciones del GD-Profiler 2 ™ va desde estudios de corrosión hasta control de proceso de recubrimiento PVD, incluyendo películas delgadas de celdas fotovoltaicas y control de calidad en fabricación de LEDs e investigación avanzada de materiales en Universidades, así como en laboratorios de Investigación Industrial. también aplica para el análisis elemental en la industria de metales.

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• Generador de RF estándar de Clase E optimizado para tener estabilidad y  forma del cráter, que hace posible un análisis de superficie real.
• El Generador RF se puede pulsar con adquisición sincronizada para obtener resultados óptimos en muestras frágiles.
• El uso de una fuente de RF permite el análisis de capas y materiales convencionales y/o no convencionales. así como conductores y no conductores de electricidad.
• Su óptica simultánea proporciona una cobertura espectral completa de 110 a 800 nm, incluido el ultravioleta profundo para el  análisis de H, O, C, N y Cl.
• Rejillas o Grating de difracción originales de HORIBA aseguran el mayor rendimiento y resolución de luz para una máxima eficiencia y sensibilidad.
• Sistema de detección HDD patentada que proporciona velocidad y sensibilidad en la detección sin comprometer el desempeño del sistema.
• Medición en línea de la profundidad del cráter y la tasa de erosión con interferómetro incorporado patentado.
• Compartimento de muestras de fácil acceso que ofrece mucho espacio para manipular las muestras.
• Potente software QUANTUM ™ con herramienta de redacción de informes Tabler.
• Puntero láser CenterLite (patente pendiente) para la carga precisa de la muestra.
• Opción de monocromador disponible solo en HORIBA, proporciona la herramienta perfecta para aumentar la flexibilidad del instrumento agregando "n + 1" elementos. 

ICP-OES asequible de alto rendimiento.

HORIBA Scientific desarrolla y fabrica espectrómetros ICP-OES de alto rendimiento desde hace más de 35 años. La nueva Ultima Expert LT proporciona muy alto rendimiento a un precio asequible para laboratorios con muestras y aplicaciones desafiantes.

Integra un diseño óptico Jobin Yvon de alta eficiencia capaz de lograr el mejor rendimiento óptimo para cualquier tipo de muestras y matrices. 

El Ultima Expert LT es potencializado por el poderoso software NEO, que presenta una gran variedad de funcionalidades analíticas para un control y análisis personalizados.

La robustez de Ultima Expert LT lo hace ideal para aplicaciones comunes en minería, fabricación de productos químicos, producción de sal, metales de desgaste en análisis de aceites, producción petroquímica y metalúrgica etc.

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• Visualización radial y visualización de plasma total que proporcionan los límites de detección más bajos en espectrometría ICP-OES
• Característica única de gas envolvente para una estabilidad inigualable en muestras con alto contenido de sólidos disueltos totales, hasta un 30% de sólidos disueltos
• Cobertura de longitud de onda continua de 120 a 800 nm con opción de UV lejano para mejorar la sensibilidad para el análisis de halógenos o longitudes de onda alternativas
• Resolución espectral inigualable que minimiza las interferencias con <5 pm para longitudes de onda en el rango de 120-320 nm

La única unidad LED que cambia y selecciona de longitudes de onda como una fuente de luz forense.

Históricamente, las fuentes de luz alternativas basadas en LED tenían una gran ventaja sobre las fuentes de luz tradicionales que funcionan con baterías.

Permite empaquetar muchos LED en una pequeña unidad de mano y puede iluminar evidencia durante un período más largo de tiempo. Sin embargo, las unidades LED tenían algunas fallas como: se necesitaban múltiples unidades para cubrir el espectro, puntos difusos muy amplios y acumulaban mucho calor con el tiempo, lo suficiente como para causar incomodidad al usuario.

El HandScope LED fue diseñado para superar las fallas de las fuentes de luz LED comunes Y lo hace de forma sorprendente. Lo más importante es que la unidad contiene 5 longitudes de onda, lo que proporciona cobertura en todo el espectro requerido por la comunidad  forense.

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• Motor LED de 25.000 horas
• Operación con una mano
• Control electrónico de selección de intensidad y longitud de onda
• 5 longitudes de onda en total: UV (365), 440, 460, CSS (Búsqueda de la escena del crimen), 520
• Fuente de alimentación de 110-220 VCA para la unidad principal y el cargador externo
• 2 baterías de iones de litio
• Cargador externo para batería
• 4 pares de gafas (blanco, amarillo, naranja, rojo)
• 3 - 62 mm de diámetro de filtros de cámara (amarillo, naranja, rojo)
• Estuche de transporte resistente

Analizador de fluorescencia de rayos X.

HORIBA ha vendido la serie XGT-WR de analizadores EDXRF durante muchos años, proporcionando mediciones de detección de muestras que contienen elementos peligrosos como Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Sb, As para RoHS, ELV y Cl en  aplicaciones libres de halógenos.

HORIBA ha desarrollado ahora el nuevo analizador MESA-50 EDXRF, basado en su larga experiencia en los requisitos y necesidades de los clientes. El MESA-50 proporciona un funcionamiento sencillo y excelente rendimiento, incluye tres diámetros de análisis, adecuados para diferentes muestras, desde cables delgados y piezas electrónicas hasta muestras a granel. 

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• Rápido:

El de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporcionando mayor sensibilidad para el análisis de alto rendimiento

• Pequeño:

De tamaño reducido y liviano

Fuente de alimentación con batería interna.

• Sencillo:

Mantenimiento de rutina reducido. (No requiere LN2) ni bomba de vacío, proceso de medición sencillo e intuitivo. 

• Inteligente:

Interfaces de usuario multilenguaje.

Herramienta de gestión de datos Excel®

• Seguro:

No se preocupe por las fugas de rayos X.

Técnica de perfilado de profundidad ultrarrápida, sensible y de alta resolución.

Plasma Profiling TOFMS plantea las necesidades de los científicos de materiales en una amplia gama de áreas de aplicación. PP-TOFMS proporciona una rápida distribución de profundidad elemental de cualquier material inorgánico.

La velocidad y la facilidad de uso de PP-TOFMS permiten reducir el tiempo de optimización de los procesos de crecimiento, ya que muchos investigadores se esfuerzan por reducir el tiempo desde el descubrimiento hasta la aplicación de nuevos materiales. La cobertura total simultánea de TOFMS disponible para cada punto de profundidad permite la detección de contaminación no sospechada. Esto es clave para el análisis de fallas y la optimización de procesos de película delgada que tienden a no basarse en métodos de grado ultra alto (es decir, impresión por chorro de tinta).

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• Compacto.
• Rápido.
• Fácil de Usar.
• Aplicación general en ciencia de materiales.
• Multi usuario.

High resolution, high sensitivity and high stability ICP-OES.

Última Expert posee un diseño óptico “Jobin Yvon” de alta eficiencia, capaz de alcanzar un rendimiento óptimo para una gran variedad de muestras y matrices.

Incluye un software de análisis con una variedad de funcionalidades, que permiten tener mayor control además de poder personalizarlo si se desea. 

Es el instrumento ideal para las aplicaciones a la minería, fabricación de químicos, la producción de sal, metales de desgaste de  en el análisis de aceites, la producción petroquímica, metalúrgica y refinado de metales preciosos.  

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• El Ultima Expert ofrece el rendimiento más alto del mercado, es especialmente diseñado para manejar las    aplicaciones más desafiantes.
• Su diseño óptico de alta calidad integra una rejilla holográfica de alta densidad y una distancia focal de un metro asociada a la característica única de Vista total del plasma, ofrece la resolución más alta del mercado, junto a una altísima sensibilidad y estabilidad especial para las aplicaciones más exigentes.
• Visualización radial y total  del plasma que proporcionan los límites de detección más bajos en espectrometría ICP OES.
• Característica única de gas envolvente para una estabilidad inigualable en muestras con alto contenido de sólidos disueltos totales, incluso con hasta un 30% de sólidos disueltos.
• Rango Espectral de 120 a 800 nm con opción de UV lejano para mejorar la sensibilidad para el análisis de halógenos o  longitudes de onda alternativas.
• Resolución espectral inigualable que minimiza las interferencias con <5 pm para longitudes de onda en el rango de    120-320 nm.
• Sistema de rejilla dual opcional, que ofrece una resolución de <6pm hasta 450 nm para matrices ricas en líneas como elementos de tierras raras, aplicaciones geológicas o de metales preciosos.
• Dispositivo HiStab único para lograr una estabilidad excepcional para aplicaciones exigentes.
• Detección HDD® patentada que proporciona sub-ppb a nivel de porcentaje en un solo análisis
• Rango dinámico de hasta 10 órdenes de magnitud usando Image
• Policromador opcional de 0,5m o 1 m para análisis simultáneo.

Es la primera fuente de luz alternativa LED que ofrece una iluminación uniforme, eliminando los puntos calientes.

El punto homogéneo y el borde definido de FOCUS brindan la intensidad constante necesaria para capturar fotos correctamente donde no hay secciones sub o demasiado desarrolladas en la misma imagen.

Ahora, las ubicaciones más estrechas, en cualquier escena del crimen, se pueden buscar con la misma iluminación uniforme que la de una fuente de luz de laboratorio más grande.

El FOCUS es una unidad liviana, compacta y robusta que permite a los investigadores buscar escenas del crimen con la misma iluminación uniforme que la de las unidades de fuente de luz del laboratorio. 

La Batería del FOCUS LED funciona un mínimo de dos horas y ofrece un botón de encendido "instantáneo" para el procesamiento inmediato de las escenas del crimen.

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• - Intensidad
• - Portabilidad
• - Facilidad de uso

EQUIPOS

• Forensic Light Sources
• Reflective Ultra-Violet Imaging System [RUVIS]
• Fingerprint imaging systems and software
• Automated Fingerprint / Palmprint Identification Systems [AFIS/APIS]
• Raman microscopes
• X-Ray Fluorescence 

Analizador de fluorescencia de rayos X

Con el fin de cumplir con las  RoHS/ELV y el análisis de  elementos peligrosos, HORIBA en el  2012, lanzó el  analizador de fluorescencia de rayos X intuitivo MESA-50.

El cual se hizo muy popular en muy poco tiempo, y en 2013 se agregó a la serie un nuevo tipo de MESA-50 con una cámara de muestra muy amplia que permite el análisis de muestras de gran tamaño. 

El MESA-50K está equipado con el sofisticado detector libre de LN2, la función de análisis As / Sb y de película multicapa FPM disponibles como opciones.

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• Rápido:

El de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporcionando mayor sensibilidad para el análisis de alto rendimiento

• Pequeño:

De tamaño reducido y liviano

Fuente de alimentación con batería interna.

• Sencillo:

Mantenimiento de rutina reducido. (No requiere LN2) ni bomba de vacío, proceso de medición sencillo e intuitivo. 

• Inteligente:

Interfaces de usuario multilenguaje.

Herramienta de gestión de datos Excel®

• Seguro:

No se preocupe por las fugas de rayos X.

La nueva generación de la principal fuente de luz forense en la escena del crimen.

Basado en el conocimiento y la experiencia de casi 20 años en el  diseño de fuentes de luz forense, el Mini-CrimeScope Advance incorpora la misma facilidad de uso y confiabilidad inigualable de su predecesor, junto con lo último en tecnología de lámparas de arco para brindar una unidad con rendimiento sin igual.

El Mini-CrimeScope Advance es la fuente de luz forense más versátil, con opción de 8 o 15 longitudes de onda, todo con una sola rueda de filtros portátil montada en el extremo de trabajo, lo que proporciona una facilidad de uso aún mayor.

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• Para la escena del crimen y el trabajo en el laboratorio.
• Poderosa.
• Portabilidad
• Facilidad de uso
• Actualización.

EQUIPOS

• Forensic Light Sources
• Reflective Ultra-Violet Imaging System [RUVIS]
• Fingerprint imaging systems and software
• Automated Fingerprint / Palmprint Identification Systems [AFIS/APIS]
• Raman microscopes
• X-Ray Fluorescence 

Capture imágenes de resolución ultra alta con la nueva cámara de ultra alta definición de 29 MP.

SceneScope RUVIS 29MP es una cámara de ultra alta definición basada en un sensor de 29MP con una resolución de 6644 x 4452 píxeles y un chip de fotograma completo.

Incluye software de captura con 3 modos seleccionables por el usuario: visualización rápida para ubicación, enfoque en la evidencia y alto detalle para captura en alta resolución y alto rango dinámico.

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• - Software mejorado
• - Superficies lisas y no porosas
• - Detecta impresiones latentes
• - Comparación
• - Capture una imagen una vez en alta resolución
• - Rechazo de fondo.

EQUIPOS

• Forensic Light Sources
• Reflective Ultra-Violet Imaging System [RUVIS]
• Fingerprint imaging systems and software
• Automated Fingerprint / Palmprint Identification Systems [AFIS/APIS]
• Raman microscopes
• X-Ray Fluorescence