X-ray Analytical Microscope.

La evolución de μXRF!,  con sensibilidad mejorada y nueva tecnología de imagen, es una combinación que logra el análisis a alta velocidad de muchos materiales en una sola unidad.

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• Operación de análisis simple sin necesidad de preparaciones complejas y análisis elemental no destructivo.
• Permite acceder rápidamente a los puntos de medición  a través de una observación óptica de alta precisión, incluso en el rango microscópico.
• Un  software muy completo con una gran variedad de herramientas   para el  análisis de imágenes.

ICP-OES asequible de alto rendimiento.

HORIBA Scientific desarrolla y fabrica espectrómetros ICP-OES de alto rendimiento desde hace más de 35 años. La nueva Ultima Expert LT proporciona muy alto rendimiento a un precio asequible para laboratorios con muestras y aplicaciones desafiantes.

Integra un diseño óptico Jobin Yvon de alta eficiencia capaz de lograr el mejor rendimiento óptimo para cualquier tipo de muestras y matrices. 

El Ultima Expert LT es potencializado por el poderoso software NEO, que presenta una gran variedad de funcionalidades analíticas para un control y análisis personalizados.

La robustez de Ultima Expert LT lo hace ideal para aplicaciones comunes en minería, fabricación de productos químicos, producción de sal, metales de desgaste en análisis de aceites, producción petroquímica y metalúrgica etc.

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• Visualización radial y visualización de plasma total que proporcionan los límites de detección más bajos en espectrometría ICP-OES
• Característica única de gas envolvente para una estabilidad inigualable en muestras con alto contenido de sólidos disueltos totales, hasta un 30% de sólidos disueltos
• Cobertura de longitud de onda continua de 120 a 800 nm con opción de UV lejano para mejorar la sensibilidad para el análisis de halógenos o longitudes de onda alternativas
• Resolución espectral inigualable que minimiza las interferencias con <5 pm para longitudes de onda en el rango de 120-320 nm

Horiba Scientific ofrece soluciones completas de espectroscopia Raman para mediciones analíticas, investigación Raman, UV Raman, QC / QA y aplicaciones industriales Raman.

Estos incluyen microscopios Raman, sistemas híbridos Raman (como AFM-Raman), sistemas  modulares Raman, analizadores de transmisión Raman, espectrómetros Raman dedicados de proceso in situ e instrumentos miniaturizados Raman, para fabricación de OEM de gran volumen. producción en todo el mundo.

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APLICACIONES PRINCIPALES

• Microfotoluminiscencia.
• Nanotubos de Carbono.
• Mapeo de Nanomateriales.
• Fotoluminiscencia y Raman de diodos AlGaAs / InGaAs.
• Semiconductores.
• Fotoluminiscencia en Baja Temperatura

Analizador de fluorescencia de rayos X.

HORIBA ha vendido la serie XGT-WR de analizadores EDXRF durante muchos años, proporcionando mediciones de detección de muestras que contienen elementos peligrosos como Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Sb, As para RoHS, ELV y Cl en  aplicaciones libres de halógenos.

HORIBA ha desarrollado ahora el nuevo analizador MESA-50 EDXRF, basado en su larga experiencia en los requisitos y necesidades de los clientes. El MESA-50 proporciona un funcionamiento sencillo y excelente rendimiento, incluye tres diámetros de análisis, adecuados para diferentes muestras, desde cables delgados y piezas electrónicas hasta muestras a granel. 

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• Rápido:

El de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporcionando mayor sensibilidad para el análisis de alto rendimiento

• Pequeño:

De tamaño reducido y liviano

Fuente de alimentación con batería interna.

• Sencillo:

Mantenimiento de rutina reducido. (No requiere LN2) ni bomba de vacío, proceso de medición sencillo e intuitivo. 

• Inteligente:

Interfaces de usuario multilenguaje.

Herramienta de gestión de datos Excel®

• Seguro:

No se preocupe por las fugas de rayos X.

High resolution, high sensitivity and high stability ICP-OES.

Última Expert posee un diseño óptico “Jobin Yvon” de alta eficiencia, capaz de alcanzar un rendimiento óptimo para una gran variedad de muestras y matrices.

Incluye un software de análisis con una variedad de funcionalidades, que permiten tener mayor control además de poder personalizarlo si se desea. 

Es el instrumento ideal para las aplicaciones a la minería, fabricación de químicos, la producción de sal, metales de desgaste de  en el análisis de aceites, la producción petroquímica, metalúrgica y refinado de metales preciosos.  

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• El Ultima Expert ofrece el rendimiento más alto del mercado, es especialmente diseñado para manejar las    aplicaciones más desafiantes.
• Su diseño óptico de alta calidad integra una rejilla holográfica de alta densidad y una distancia focal de un metro asociada a la característica única de Vista total del plasma, ofrece la resolución más alta del mercado, junto a una altísima sensibilidad y estabilidad especial para las aplicaciones más exigentes.
• Visualización radial y total  del plasma que proporcionan los límites de detección más bajos en espectrometría ICP OES.
• Característica única de gas envolvente para una estabilidad inigualable en muestras con alto contenido de sólidos disueltos totales, incluso con hasta un 30% de sólidos disueltos.
• Rango Espectral de 120 a 800 nm con opción de UV lejano para mejorar la sensibilidad para el análisis de halógenos o  longitudes de onda alternativas.
• Resolución espectral inigualable que minimiza las interferencias con <5 pm para longitudes de onda en el rango de    120-320 nm.
• Sistema de rejilla dual opcional, que ofrece una resolución de <6pm hasta 450 nm para matrices ricas en líneas como elementos de tierras raras, aplicaciones geológicas o de metales preciosos.
• Dispositivo HiStab único para lograr una estabilidad excepcional para aplicaciones exigentes.
• Detección HDD® patentada que proporciona sub-ppb a nivel de porcentaje en un solo análisis
• Rango dinámico de hasta 10 órdenes de magnitud usando Image
• Policromador opcional de 0,5m o 1 m para análisis simultáneo.

Analizador de fluorescencia de rayos X

Con el fin de cumplir con las  RoHS/ELV y el análisis de  elementos peligrosos, HORIBA en el  2012, lanzó el  analizador de fluorescencia de rayos X intuitivo MESA-50.

El cual se hizo muy popular en muy poco tiempo, y en 2013 se agregó a la serie un nuevo tipo de MESA-50 con una cámara de muestra muy amplia que permite el análisis de muestras de gran tamaño. 

El MESA-50K está equipado con el sofisticado detector libre de LN2, la función de análisis As / Sb y de película multicapa FPM disponibles como opciones.

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• Rápido:

El de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporcionando mayor sensibilidad para el análisis de alto rendimiento

• Pequeño:

De tamaño reducido y liviano

Fuente de alimentación con batería interna.

• Sencillo:

Mantenimiento de rutina reducido. (No requiere LN2) ni bomba de vacío, proceso de medición sencillo e intuitivo. 

• Inteligente:

Interfaces de usuario multilenguaje.

Herramienta de gestión de datos Excel®

• Seguro:

No se preocupe por las fugas de rayos X.