X-ray Analytical Microscope.

La evolución de μXRF!,  con sensibilidad mejorada y nueva tecnología de imagen, es una combinación que logra el análisis a alta velocidad de muchos materiales en una sola unidad.

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• Operación de análisis simple sin necesidad de preparaciones complejas y análisis elemental no destructivo.
• Permite acceder rápidamente a los puntos de medición  a través de una observación óptica de alta precisión, incluso en el rango microscópico.
• Un  software muy completo con una gran variedad de herramientas   para el  análisis de imágenes.

Descubra un mundo completamente nuevo de información con el espectrómetro de emisión óptica de descarga luminiscente GD-OES.

El GD-Profiler 2 ™ proporciona un análisis rápido y simultáneo de todos los elementos de interés, incluyendo gases como nitrógeno, oxígeno, hidrógeno y cloro.

Es la herramienta ideal para estudios de procesos y caracterización de películas delgadas y gruesas. Equipado con una fuente de RF que puede operar en modo pulsado para el análisis de muestras frágiles.

El campo de aplicaciones del GD-Profiler 2 ™ va desde estudios de corrosión hasta control de proceso de recubrimiento PVD, incluyendo películas delgadas de celdas fotovoltaicas y control de calidad en fabricación de LEDs e investigación avanzada de materiales en Universidades, así como en laboratorios de Investigación Industrial. también aplica para el análisis elemental en la industria de metales.

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• Generador de RF estándar de Clase E optimizado para tener estabilidad y  forma del cráter, que hace posible un análisis de superficie real.
• El Generador RF se puede pulsar con adquisición sincronizada para obtener resultados óptimos en muestras frágiles.
• El uso de una fuente de RF permite el análisis de capas y materiales convencionales y/o no convencionales. así como conductores y no conductores de electricidad.
• Su óptica simultánea proporciona una cobertura espectral completa de 110 a 800 nm, incluido el ultravioleta profundo para el  análisis de H, O, C, N y Cl.
• Rejillas o Grating de difracción originales de HORIBA aseguran el mayor rendimiento y resolución de luz para una máxima eficiencia y sensibilidad.
• Sistema de detección HDD patentada que proporciona velocidad y sensibilidad en la detección sin comprometer el desempeño del sistema.
• Medición en línea de la profundidad del cráter y la tasa de erosión con interferómetro incorporado patentado.
• Compartimento de muestras de fácil acceso que ofrece mucho espacio para manipular las muestras.
• Potente software QUANTUM ™ con herramienta de redacción de informes Tabler.
• Puntero láser CenterLite (patente pendiente) para la carga precisa de la muestra.
• Opción de monocromador disponible solo en HORIBA, proporciona la herramienta perfecta para aumentar la flexibilidad del instrumento agregando "n + 1" elementos. 

Carbon/Sulfur Analyzer - Modelo de alto rendimiento: EMIA-Expert.

Para análisis que exigen la mayor exactitud y precisión

El analizador de carbono / azufre EMIA-Expert se basa en la reconocida experiencia de HORIBA en tecnología de detectores infrarrojo no dispersivos (NDIR).

Incorpora una extraordinaria eficiencia de limpieza mejorada, un software fácil de usar, durabilidad, operatividad y mantenimiento que garantiza mediciones eficientes.

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• Unidad purificadora de alto rendimiento para gas portador.
• Unidad de Calentamiento de  filtro de alto rendimiento.
• MTBM largo (tiempo medio entre mantenimiento)
• Alto rendimiento y productividad.
• Mantenimiento fácil y rápido
• Software avanzado de operación.
• Navegador de Análisis
• Navegador para Guia de Mantenimiento

Horiba Scientific ofrece soluciones completas de espectroscopia Raman para mediciones analíticas, investigación Raman, UV Raman, QC / QA y aplicaciones industriales Raman.

Estos incluyen microscopios Raman, sistemas híbridos Raman (como AFM-Raman), sistemas  modulares Raman, analizadores de transmisión Raman, espectrómetros Raman dedicados de proceso in situ e instrumentos miniaturizados Raman, para fabricación de OEM de gran volumen. producción en todo el mundo.

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APLICACIONES PRINCIPALES

• Microfotoluminiscencia.
• Nanotubos de Carbono.
• Mapeo de Nanomateriales.
• Fotoluminiscencia y Raman de diodos AlGaAs / InGaAs.
• Semiconductores.
• Fotoluminiscencia en Baja Temperatura

Analizador de fluorescencia de rayos X.

HORIBA ha vendido la serie XGT-WR de analizadores EDXRF durante muchos años, proporcionando mediciones de detección de muestras que contienen elementos peligrosos como Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Sb, As para RoHS, ELV y Cl en  aplicaciones libres de halógenos.

HORIBA ha desarrollado ahora el nuevo analizador MESA-50 EDXRF, basado en su larga experiencia en los requisitos y necesidades de los clientes. El MESA-50 proporciona un funcionamiento sencillo y excelente rendimiento, incluye tres diámetros de análisis, adecuados para diferentes muestras, desde cables delgados y piezas electrónicas hasta muestras a granel. 

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• Rápido:

El de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporcionando mayor sensibilidad para el análisis de alto rendimiento

• Pequeño:

De tamaño reducido y liviano

Fuente de alimentación con batería interna.

• Sencillo:

Mantenimiento de rutina reducido. (No requiere LN2) ni bomba de vacío, proceso de medición sencillo e intuitivo. 

• Inteligente:

Interfaces de usuario multilenguaje.

Herramienta de gestión de datos Excel®

• Seguro:

No se preocupe por las fugas de rayos X.

Técnica de perfilado de profundidad ultrarrápida, sensible y de alta resolución.

Plasma Profiling TOFMS plantea las necesidades de los científicos de materiales en una amplia gama de áreas de aplicación. PP-TOFMS proporciona una rápida distribución de profundidad elemental de cualquier material inorgánico.

La velocidad y la facilidad de uso de PP-TOFMS permiten reducir el tiempo de optimización de los procesos de crecimiento, ya que muchos investigadores se esfuerzan por reducir el tiempo desde el descubrimiento hasta la aplicación de nuevos materiales. La cobertura total simultánea de TOFMS disponible para cada punto de profundidad permite la detección de contaminación no sospechada. Esto es clave para el análisis de fallas y la optimización de procesos de película delgada que tienden a no basarse en métodos de grado ultra alto (es decir, impresión por chorro de tinta).

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• Compacto.
• Rápido.
• Fácil de Usar.
• Aplicación general en ciencia de materiales.
• Multi usuario.

Carbon/Sulfur Analyzer - Modelo estándar: EMIA-Pro.

El analizador de carbono / azufre EMIA-Pro se basa en la reconocida experiencia de HORIBA en tecnología de detectores  infrarrojo no dispersivo (NDIR). 

Presenta una eficiencia de limpieza mejorada, un software mejorado fácil de usar, durabilidad, operatividad y mantenimiento que garantiza mediciones eficientes. 

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• MTBM largo (tiempo medio entre mantenimiento).
• Alto rendimiento.
• Mantenimiento fácil y rápido.
• Software de operación avanzada.
• Es actualizable.
• Navegador para Guia de Mantenimiento

Analizador de fluorescencia de rayos X

Con el fin de cumplir con las  RoHS/ELV y el análisis de  elementos peligrosos, HORIBA en el  2012, lanzó el  analizador de fluorescencia de rayos X intuitivo MESA-50.

El cual se hizo muy popular en muy poco tiempo, y en 2013 se agregó a la serie un nuevo tipo de MESA-50 con una cámara de muestra muy amplia que permite el análisis de muestras de gran tamaño. 

El MESA-50K está equipado con el sofisticado detector libre de LN2, la función de análisis As / Sb y de película multicapa FPM disponibles como opciones.

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• Rápido:

El de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporcionando mayor sensibilidad para el análisis de alto rendimiento

• Pequeño:

De tamaño reducido y liviano

Fuente de alimentación con batería interna.

• Sencillo:

Mantenimiento de rutina reducido. (No requiere LN2) ni bomba de vacío, proceso de medición sencillo e intuitivo. 

• Inteligente:

Interfaces de usuario multilenguaje.

Herramienta de gestión de datos Excel®

• Seguro:

No se preocupe por las fugas de rayos X.

Analizador de carbono / azufre.

Además de la serie "EMIA-Expert / Pro" con  horno de inducción de alta frecuencia, el "EMIA-Step" posee horno de calentamiento por resistencia eléctrica tubular, que se ha agregado recientemente a nuestra línea de analizadores de carbono / azufre.

Permite  realizar análisis altamente precisos y sensibles, su función de temperatura de calentamiento variable permite el análisis cuantitativo separándolo por rampas de  temperatura y condición, así como el análisis total.

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• Permite el control de temperatura a partir de un rango de temperatura baja
• Nuevo filtro de polvo que proporciona capacidad de mantenimiento sencilla
• Software con funciones de navegación que facilitan la operación.
• Navegador para Guía de Mantenimiento

Analizador de Oxígeno / Nitrógeno.

El EMGA-920 es un analizador elemental de oxígeno y nitrógeno con alta precisión y repetibilidad que se adapta a la I + D de tecnología de vanguardia, así como al control de calidad.

De gran aplicación en el mercado del acero, nuevos materiales, catalizadores, etc. Es  optimizado para adaptarse a las necesidades del usuario.

El oxígeno se mide como monóxido de carbono y dióxido de carbono mediante un detector de infrarrojo no dispersivo y el nitrógeno mediante un detector de conductividad.

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• Principio y diagrama de flujo de gas.
• Súper alto rendimiento.
• Software fácil de usar.
• Navegador para guía de mantenimiento HORIBA.

Analizador de hidrógeno.

El analizador de hidrógeno EMGA-921: Es el  "nuevo modelo insignia" para el analizador H, siendo un equipo fácil de usar.

Se trata de un analizador elemental de hidrógeno de alta precisión y repetibilidad que se adapta a la I + D de tecnología de punta, así como al control de calidad en el mercado del acero, nuevos materiales, catalizadores, etc. 

El hidrógeno es medido como H2 mediante un detector de conductividad térmica.

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• Principio y diagrama de flujo de gas.
• Super alto rendimiento
• Software amigable y poderoso.
• Navegador para guía de mantenimiento HORIBA

Analizador EMGA-930 O / N / H.

El EMGA-930 es un analizador elemental simultáneo de oxígeno, nitrógeno e hidrógeno con alta precisión y repetibilidad que se adapta a la I + D de tecnología de punta, así como al control de calidad en el mercado del acero, nuevos materiales, catalizadores, etc.

El oxígeno se mide como el monóxido de carbono y dióxido de carbono por dos detectores de infrarrojos no dispersivos, el nitrógeno por un detector de conductividad térmica y el hidrógeno con el detector no dispersivo Infra Rojo como H2O.

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• Principio y diagrama de flujo de gas.
• Super alto rendimiento.
• Software fácil de usar.
• Navegador para guía de mantenimiento HORIBA.