MESA-7220V2
Referencia: MESA-7220V2
X-ray Fluorescence Sulfur/Chlorine-in-oil Analyzer
El MESA-7220V2 mide el azufre y el cloro en productos derivados del petróleo utilizando el método monocromático EDXRF. Se utiliza una fuente de rayos X monocromática para obtener un ruido de fondo ultra bajo, que permite obtener los mejores límites de detección tanto para azufre como para cloro.
El tamaño de la ventana del detector se aumentó para captar mayor fluorescencia de rayos X y así alcanzar valores de ppm al nivel más bajo. Logrando excelente rendimiento y repetible tanto a bajas como a altas concentraciones de ambos elementos.
En concordancia de estándares: ASTM D7220 / D4294 ISO 8754 / 13032 / 20847
- Rango de análisis dinámico:
- Azufre: 0,7 ppm - 10,0% en peso
- Cloro: 0,6 ppm - 10,0% en peso
- Rango automático para curvas extendidas.
- No se requieren gases de purga.
- Máximo 60 curvas de calibración y 300 puntos de datos por curva.
- Permite editar curvas de calibración después de salvadas.
- Tiempos de medición de 30 a 999 seg.
- La medición se puede repetir de 1 a 99 veces.
- Función de corrección con el oxígeno que elimina las interferencias que afectan las lecturas de azufre.
- Permite medir varios tipos de muestras * [sólidos, líquidos, polvos, pastas, gránulos y películas].
- Hasta 20 cuentas de administrador y usuario.
- Ventana Kapton reemplazable por el usuario, sin herramientas especiales.
- Ajuste micrométrico del ángulo del cristal de grafito para máxima sensibilidad.
- PC independiente, permite actualizaciones de software electrónicamente.
- Sistemas de seguridad integrados para proteger al usuario de los rayos X.
- Detector de silicio de larga duración / Ventana de berilio de rayos X.
SLFA
ASTM D4294
ISO 875
ASTM D7220 / D4294
ISO 8754 / 13032 / 20847
MESA-7220V2
X-ray Fluorescence Sulfur/Chlorine-in-oil Analyzer
El MESA-7220V2 mide el azufre y el cloro en productos derivados del petróleo utilizando el método monocromático EDXRF. Se utiliza una fuente de rayos X monocromática para obtener un ruido de fondo ultra bajo, que permite obtener los mejores límites de detección tanto para azufre como para cloro.
El tamaño de la ventana del detector se aumentó para captar mayor fluorescencia de rayos X y así alcanzar valores de ppm al nivel más bajo. Logrando excelente rendimiento y repetible tanto a bajas como a altas concentraciones de ambos elementos.
En concordancia de estándares: ASTM D7220 / D4294 ISO 8754 / 13032 / 20847
- Rango de análisis dinámico:
- Azufre: 0,7 ppm - 10,0% en peso
- Cloro: 0,6 ppm - 10,0% en peso
- Rango automático para curvas extendidas.
- No se requieren gases de purga.
- Máximo 60 curvas de calibración y 300 puntos de datos por curva.
- Permite editar curvas de calibración después de salvadas.
- Tiempos de medición de 30 a 999 seg.
- La medición se puede repetir de 1 a 99 veces.
- Función de corrección con el oxígeno que elimina las interferencias que afectan las lecturas de azufre.
- Permite medir varios tipos de muestras * [sólidos, líquidos, polvos, pastas, gránulos y películas].
- Hasta 20 cuentas de administrador y usuario.
- Ventana Kapton reemplazable por el usuario, sin herramientas especiales.
- Ajuste micrométrico del ángulo del cristal de grafito para máxima sensibilidad.
- PC independiente, permite actualizaciones de software electrónicamente.
- Sistemas de seguridad integrados para proteger al usuario de los rayos X.
- Detector de silicio de larga duración / Ventana de berilio de rayos X.