CategoriaAplicaciones

Espectroscopía Raman

AFM-RAMAN

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Espectroscopía de fluorescencia

Espectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Determinación de carbono y azufre

Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículas

Difracción laser para medición del tamaño de las partículas

Análisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)

DLS - Potencial Z

Soluciones de espectroscopía en microscopio estándar (SMS)

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

Resonancia magnética nuclear (de campo alto)

Espectrometría de masas

Cromatografía de gases acoplado a masas

Laser y fuentes de luz

Maquina universal de ensayos

Medición de dureza

Microfluidizadores

Péndulos de impacto Charpy

Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)

Medición de espesor y metales preciosos por fluorescencia de rayos X (EDX-RF)

Espectroscopía Raman

AFM-RAMAN

Espectroscopía de fluorescencia

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)

Determinación de carbono y azufre

Determinación de oxígeno, nitrógeno e hidrógeno

Medición de espesor y metales preciosos por fluorescencia de rayos X (EDX-RF)

Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículas

Difracción laser para medición del tamaño de las partículas

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

Espectroscopía emisión óptica (OES)

Difracción de rayos X - XRD

Maquina universal de ensayos

Medición de dureza

Medición de espesor por inducción magnética (Inducción magnética, corriente de Foucault)

Medición de espesor por ultrasonido

Péndulos de impacto Charpy

Preparación de muestras para metalografía

Espectroscopía Raman

Espectroscopía de fluorescencia

Catodoluminiscencia

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Determinación de carbono y azufre

Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículas

Difracción laser para medición del tamaño de las partículas

Análisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)

Soluciones de espectroscopía en microscopio estándar (SMS)

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

Cromatografía de gases

Cromatografía de gases acoplado a masas

Difracción de rayos X - XRD

Fluorescencia de rayos X - TXRF

Maquina universal de ensayos

Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículas

Área superficial - Absorción de gas en flujo

Difracción laser para medición del tamaño de las partículas

DLS - Potencial Z

Difracción de rayos X - XRD

Espectrometría de masas

Fluorescencia de rayos X - TXRF

Laser y fuentes de luz

AFM-RAMAN

Determinación de carbono y azufre

Espectroscopía de fluorescencia

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Espectroscopía Raman

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Maquina universal de ensayos

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

Péndulos de impacto Charpy

Preparación de muestras por fusión

Procesamiento y preparación de muestras

Espectroscopía Raman

AFM-RAMAN

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Espectroscopía de fluorescencia

Determinación de carbono y azufre

Determinación de oxígeno, nitrógeno e hidrógeno

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

Resonancia magnética nuclear (de campo alto)

Espectrometría de masas

Cromatografía de gases

Cromatografía de gases acoplado a masas

Control de movimiento X,Y,Z

Laser y fuentes de luz

Difracción de rayos X - XRD

Fluorescencia de rayos X - TXRF

Laser y fuentes de luz

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)

Maquina universal de ensayos

Péndulos de impacto Charpy

Laser y fuentes de luz