21 agosto, 2025 POR 4fm1n Materiales poliméricos Volver a aplicaciones MATERIALES POLIMÉRICOS Espectroscopía RamanAFM-RAMANMicroscopía de fuerza atómica (AFM)Espectroscopía de fluorescenciaEspectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)Determinación de carbono y azufreAnálisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasDifracción laser para medición del tamaño de las partículasAnálisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)DLS - Potencial ZSoluciones de espectroscopía en microscopio estándar (SMS)Microscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Resonancia magnética nuclear (de campo alto)Espectrometría de masasCromatografía de gases acoplado a masasLaser y fuentes de luzMaquina universal de ensayosMedición de durezaMicrofluidizadoresPéndulos de impacto Charpy 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Metales preciosos y joyerias Volver a aplicaciones METALES PRECIOSOS Y JOYERÍAS Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Medición de espesor y metales preciosos por fluorescencia de rayos X (EDX-RF) 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Medicion de eficiencia cuantica Volver a aplicaciones MEDICIÓN DE EFICIENCIA CUÁNTICA Espectroscopía RamanAFM-RAMANEspectroscopía de fluorescencia 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Materiales metálicos Volver a aplicaciones MATERIALES METÁLICOS Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Determinación de carbono y azufreDeterminación de oxígeno, nitrógeno e hidrógenoMedición de espesor y metales preciosos por fluorescencia de rayos X (EDX-RF)Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasDifracción laser para medición del tamaño de las partículasMicroscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Espectroscopía emisión óptica (OES)Difracción de rayos X - XRDMaquina universal de ensayosMedición de durezaMedición de espesor por inducción magnética (Inducción magnética, corriente de Foucault)Medición de espesor por ultrasonidoPéndulos de impacto CharpyPreparación de muestras para metalografía 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Materiales no metálicos Volver a aplicaciones MATERIALES NO METÁLICOS Espectroscopía RamanEspectroscopía de fluorescenciaCatodoluminiscenciaEspectroscopía emisión óptica (GD-OES)Determinación de carbono y azufreAnálisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasDifracción laser para medición del tamaño de las partículasAnálisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)Soluciones de espectroscopía en microscopio estándar (SMS)Microscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Cromatografía de gasesCromatografía de gases acoplado a masasDifracción de rayos X - 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21 agosto, 2025 POR 4fm1n Metales preciosos y joyerias Volver a aplicaciones METALES PRECIOSOS Y JOYERÍAS Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Medición de espesor y metales preciosos por fluorescencia de rayos X (EDX-RF) 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Medicion de eficiencia cuantica Volver a aplicaciones MEDICIÓN DE EFICIENCIA CUÁNTICA Espectroscopía RamanAFM-RAMANEspectroscopía de fluorescencia 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Materiales metálicos Volver a aplicaciones MATERIALES METÁLICOS Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Determinación de carbono y azufreDeterminación de oxígeno, nitrógeno e hidrógenoMedición de espesor y metales preciosos por fluorescencia de rayos X (EDX-RF)Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasDifracción laser para medición del tamaño de las partículasMicroscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Espectroscopía emisión óptica (OES)Difracción de rayos X - XRDMaquina universal de ensayosMedición de durezaMedición de espesor por inducción magnética (Inducción magnética, corriente de Foucault)Medición de espesor por ultrasonidoPéndulos de impacto CharpyPreparación de muestras para metalografía 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Materiales no metálicos Volver a aplicaciones MATERIALES NO METÁLICOS Espectroscopía RamanEspectroscopía de fluorescenciaCatodoluminiscenciaEspectroscopía emisión óptica (GD-OES)Determinación de carbono y azufreAnálisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasDifracción laser para medición del tamaño de las partículasAnálisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)Soluciones de espectroscopía en microscopio estándar (SMS)Microscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Cromatografía de gasesCromatografía de gases acoplado a masasDifracción de rayos X - XRDFluorescencia de rayos X - TXRFMaquina universal de ensayos 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Materiales cerámicos Volver a aplicaciones MATERIALES CERÁMICOS Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasÁrea superficial - Absorción de gas en flujoDifracción laser para medición del tamaño de las partículasDLS - Potencial ZDifracción de rayos X - XRDEspectrometría de masasFluorescencia de rayos X - TXRFLaser y fuentes de luzAFM-RAMANDeterminación de carbono y azufreEspectroscopía de fluorescenciaEspectroscopía emisión óptica (GD-OES)Espectroscopía RamanMicroscopía de fuerza atómica (AFM)Maquina universal de ensayosMicroscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Péndulos de impacto CharpyPreparación de muestras por fusiónProcesamiento y preparación de muestras 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Materiales a base de carbono Volver a aplicaciones MATERIALES A BASE DE CARBONO Espectroscopía RamanAFM-RAMANMicroscopía de fuerza atómica (AFM)Espectroscopía de fluorescenciaDeterminación de carbono y azufreDeterminación de oxígeno, nitrógeno e hidrógenoMicroscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Resonancia magnética nuclear (de campo alto)Espectrometría de masasCromatografía de gasesCromatografía de gases acoplado a masas 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Marcacion laser Volver a aplicaciones MARCACIÓN LÁSER Control de movimiento X,Y,ZLaser y fuentes de luz 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Manufactura aditiva Volver a aplicaciones MANUFACTURA ADITIVA Difracción de rayos X - XRDFluorescencia de rayos X - TXRFLaser y fuentes de luzEspectroscopía emisión óptica (GD-OES)Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Maquina universal de ensayosPéndulos de impacto Charpy 21 agosto, 2025 POR 4fm1n LIDAR Volver a aplicaciones LIDAR Laser y fuentes de luz Página anterior 1 2 3 4 5 6 7 Página siguiente Menú Menú Inicio Aliados Horiba GNR Analytical Instruments Group JEOL SCION Instruments Galdabini MKS Newport MKS Spectra-Physics Bulut Makina Helmut Fischer Nanalysis Microfluidics HTA Nieka Linetronic Technologies Questron Technologies Corp ROFA OXFORD TEWS Electronik Scentroid Catálogo Aplicaciones Quienes Somos Servicios Blog Contacto Buscar por producto Volver Arriba El producto ha sido añadido a su cesta Compare (0) Compare Remove all products
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21 agosto, 2025 POR 4fm1n Materiales cerámicos Volver a aplicaciones MATERIALES CERÁMICOS Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasÁrea superficial - Absorción de gas en flujoDifracción laser para medición del tamaño de las partículasDLS - Potencial ZDifracción de rayos X - XRDEspectrometría de masasFluorescencia de rayos X - TXRFLaser y fuentes de luzAFM-RAMANDeterminación de carbono y azufreEspectroscopía de fluorescenciaEspectroscopía emisión óptica (GD-OES)Espectroscopía RamanMicroscopía de fuerza atómica (AFM)Maquina universal de ensayosMicroscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Péndulos de impacto CharpyPreparación de muestras por fusiónProcesamiento y preparación de muestras 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Materiales a base de carbono Volver a aplicaciones MATERIALES A BASE DE CARBONO Espectroscopía RamanAFM-RAMANMicroscopía de fuerza atómica (AFM)Espectroscopía de fluorescenciaDeterminación de carbono y azufreDeterminación de oxígeno, nitrógeno e hidrógenoMicroscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Resonancia magnética nuclear (de campo alto)Espectrometría de masasCromatografía de gasesCromatografía de gases acoplado a masas 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Marcacion laser Volver a aplicaciones MARCACIÓN LÁSER Control de movimiento X,Y,ZLaser y fuentes de luz 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Manufactura aditiva Volver a aplicaciones MANUFACTURA ADITIVA Difracción de rayos X - XRDFluorescencia de rayos X - TXRFLaser y fuentes de luzEspectroscopía emisión óptica (GD-OES)Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Maquina universal de ensayosPéndulos de impacto Charpy 21 agosto, 2025 POR 4fm1n LIDAR Volver a aplicaciones LIDAR Laser y fuentes de luz Página anterior 1 2 3 4 5 6 7 Página siguiente
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