La fluorescencia de rayos X – TXRF permite cuantificar elementos presentes en muestras sólidas o líquidas mediante excitación por rayos X total-reflectados. Es especialmente útil para análisis de trazas en química ambiental, materiales y nanotecnología. La técnica proporciona alta sensibilidad, mínima preparación de muestra y resultados reproducibles, facilitando la caracterización de materiales y la detección de contaminantes en investigaciones y control de calidad industrial.