21 agosto, 2025 POR 4fm1n Semiconductores Volver a aplicaciones SEMICONDUCTORES Aislamiento de vibracionesAnálisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasDifracción laser para medición del tamaño de las partículasLaser y fuentes de luzAFM-RAMANDeterminación de carbono y azufreDeterminación de oxígeno, nitrógeno e hidrógenoElipsometría espectroscópicaEspectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)Espectroscopía RamanFluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Microscopía de fuerza atómica (AFM)Microscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM) 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Transmitancia Volver a aplicaciones TRANSMITANCIA Espectroscopía de fluorescencia 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Recubrimientos Volver a aplicaciones RECUBRIMIENTOS Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Medición de espesor por inducción magnética (Inducción magnética, corriente de Foucault)Medición de espesor por ultrasonido 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Salud Volver a aplicaciones SALUD Aplicaciones médicasEspectroscopía RamanEspectroscopía de fluorescenciaFluorescencia resuelta en el tiempo (LifeTime Fluorescence)Espectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)Imagenes por resonancia de plasmones superficiales (SPRi)Análisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)Microscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Resonancia magnética nuclear (de campo alto)Espectrometría de masasCromatografía de gasesCromatografía de gases acoplado a masasFluorescencia de rayos X - TXRFMicrofluidizadores 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Propiedades ópticas de los materiales Volver a aplicaciones PROPIEDADES ÓPTICAS DE LOS MATERIALES AFM-RAMANFluorescencia resuelta en el tiempo (LifeTime Fluorescence)Elipsometría espectroscópicaEspectroscopía de fluorescenciaEspectroscopía Raman 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Preparacion de muestras por fusión (XRF, ICP, IAA) Volver a aplicaciones PREPARACIÓN DE MUESTRAS POR FUSIÓN (XRF, ICP, IAA) Preparación de muestras por fusión 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Petróleo y gas Volver a aplicaciones PETRÓLEO Y GAS Análisis por combustiónDeterminación azufre por XRFAnálisis de metales en aceites RotroilBaño termostáticoBituminososCalorimetríaCaracterización de hidrocarburos (Plantas de destilación a escala)Cromatografía de gasesCromatografía de gases acoplado a masasCromatografía liquidaDifracción de rayos X - XRDEspectrometría de masasFluorescencia de rayos X - TXRFGama en líneaGama NewlabGama OilabGenerador de vaporGLPGrasas y aceites lubricantesHidrómetrosEspectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)Espectroscopía RamanFluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)HornoMedición de azufreMicroscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Procesamiento y preparación de muestrasViscosimetría 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Nanomateriales y materiales 2D Volver a aplicaciones NANOMATERIALES Y MATERIALES 2D Espectroscopía RamanAFM-RAMANMicroscopía de fuerza atómica (AFM)Espectroscopía de fluorescenciaFluorescencia resuelta en el tiempo (LifeTime Fluorescence)Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasDifracción laser para medición del tamaño de las partículasAnálisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)DLS - Potencial ZSoluciones de espectroscopía en microscopio estándar (SMS)Microscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Laser y fuentes de luz 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Mineria y minerales Volver a aplicaciones MINERÍA Y MINERALES Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículasDifracción laser para medición del tamaño de las partículasDifracción de rayos X - XRDEspectroscopía emisión óptica (OES)Fluorescencia de rayos X - TXRFCatodoluminiscenciaEspectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)Espectroscopía RamanFluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Microscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)Preparación de muestras por fusiónProcesamiento y preparación de muestras 21 agosto, 2025 POR 4fm1n Micromaquinado Volver a aplicaciones MICROMAQUINADO MicromaquinadoLaser y fuentes de luz 1 2 3 4 5 6 7 Página siguiente Menú Menú Inicio Aliados Horiba GNR Analytical Instruments Group JEOL SCION Instruments Galdabini MKS Newport MKS Spectra-Physics Bulut Makina Helmut Fischer Nanalysis Microfluidics HTA Nieka Linetronic Technologies Questron Technologies Corp ROFA OXFORD TEWS Electronik Scentroid Catálogo Aplicaciones Quienes Somos Servicios Blog Contacto Buscar por producto Volver Arriba El producto ha sido añadido a su cesta Compare (0) Compare Remove all products
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