La microscopía electrónica de barrido (SEM) permite obtener imágenes detalladas de superficies y estructuras de muestras mediante barrido con electrones. Es utilizada en investigación de materiales, biología, nanotecnología y control de calidad industrial. Los resultados proporcionan información sobre morfología, topografía y composición elemental, facilitando caracterización precisa, desarrollo de materiales y optimización de procesos.

La línea de SEM de JEOL, incluye desde el SEM de emisión de campo insignia con la máxima resolución, amplificación y flexibilidad analítica, hasta el SEM de sobremesa fácil de usar y versátil, con el objetivo de contar con un equipo que se adapte a las diferentes aplicaciones y necesidades analíticas de la industria.