JEOL
Desde 1949, JEOL, compañía Japonesa, ha sido uno de los grandes innovadores y desarrolladores de instrumentos de alto impacto en el desarrollo científico y tecnológico. Con más 70 años de experiencia en el campo de la Microscopía Electrónica (SEM); y más de 25 años en Espectrometría de Masas y Resonancia Magnética Nuclear de alta resolución (NMR), ha permitido posicionar a JEOL como una compañía líder en el mundo, en la innovación, diseño, fabricación y soporte de instrumentos de alta Tecnología, como Microscopía de Barrido Electrónico, Resonancia Magnética Nuclear, Espectrometría de Masas, entre otras.
Microscopía electrónica de barrido (SEM)
La microscopía electrónica de barrido (SEM) permite obtener imágenes detalladas de superficies y estructuras de muestras mediante barrido con electrones. Es utilizada en investigación de materiales, biología, nanotecnología y control de calidad industrial. Los resultados proporcionan información sobre morfología, topografía y composición elemental, facilitando caracterización precisa, desarrollo de materiales y optimización de procesos.
La línea de SEM de JEOL, incluye desde el SEM de emisión de campo insignia con la máxima resolución, amplificación y flexibilidad analítica, hasta el SEM de sobremesa fácil de usar y versátil, con el objetivo de contar con un equipo que se adapte a las diferentes aplicaciones y necesidades analíticas de la industria.
