La difracción de rayos X – XRD permite identificar la estructura cristalina y composición de materiales mediante la dispersión de rayos X sobre redes cristalinas. Es fundamental en investigación de materiales, geología, química y desarrollo industrial. Los resultados ayudan a caracterizar fases, controlar calidad de productos sólidos y optimizar procesos de síntesis, asegurando precisión y confiabilidad en análisis estructurales.