- Las mediciones Macro, Micro y a Nanoescala en la misma plataforma.
- Operación totalmente automatizada, comience a medir en minutos, no en horas.
- Alta resolución espacial, etapas de mapeo automatizadas, opciones completas de visualización de microscopio.
- Detección Raman Superior, inferior y oblicua para resolución y rendimiento óptimos tanto en mediciones co-localizadas como Tip-Enhanced measurements (Raman and Photoluminescence)
- Máximo rendimiento en resolución espectral.
- Múltiples Gratings con conmutación automatizada, amplio rango espectral para Raman y PL.
- Resolución espectroscópica a nanoescala (<10 nm) mediante Tip-Enhanced measurements (Raman and Photoluminescence)
- Numerosos modos SPM que incluyen: AFM, modos conductores y eléctricos (cAFM, KPFM), STM, celda líquida y entorno electroquímico,más el mapeo químico a través de TERS / TEPL.
- Control total de los 2 instrumentos a través de una única estación de trabajo y un potente software de control.
- SPM y espectrómetro se pueden operar de forma simultánea o independiente.
- Escáneres AFM de alta frecuencia de resonancia, lejos de ruidos.
- Rendimiento excepcional del sistema, sin necesidad de aislamiento de vibraciones activo
XploRA Nano
AFM-Raman para imágenes físicas y químicas.
Sistema totalmente integrado basado en el microscopio AFM de última generación SmartSPM y el micro espectrómetro Raman XploRA Plus.
Es un modelo compacto, totalmente automatizado y muy fácil de usar, el XploRA Nano concentra el poder de AFM-Raman en un paquete asequible pero con todas las funciones, lo que hace que las imágenes TERS sean una realidad para todos. El sistema garantiza TERS para todos.
Alimentos y bebidasBiofarma y farmaciaBiotecnologíaEducación, instituciones gubernamentalesElectrónica y fotónicaEnergíaFotovoltaicaMateriales a base de carbonoMateriales cerámicosMateriales poliméricosNanomateriales y materiales 2DSemiconductores
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