La TXRF es un tipo de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF) en la que el haz incide sobre la muestra, depositada como una capa delgada sobre un soporte, con un ángulo de incidencia muy pequeño para aprovechar la mejora que proporciona el efecto de reflexión total. Siempre que la muestra sea lo suficientemente delgada (aproximación de película delgada), las principales ventajas de la técnica son:
- Análisis simultáneo de múltiples elementos de Na a Pu
- Sin efecto matriz
- Sin curvas de calibración dependientes de la matriz
- Límites de detección mejorados (LOD) hasta ng/g o menos
- Cantidad mínima de muestra
- Capacidades de microanálisis
TX 2000 , equipado con un sistema automático de conmutación de haz primario (MoKa, WLa/Lb y bremsstrahlung 33 keV), un detector de deriva de silicio (SDD) y un tubo de rayos X de alta potencia, es la solución óptima para aplicaciones en los campos medioambiental, químico y nuclear.
Características principales del TX 2000
- Los motores paso a paso con codificadores ópticos garantizan valores angulares extremadamente precisos.
- Modo de excitación mejorado mediante la selección de la energía monocromatizada más adecuada ( WL a /WL b /Mo-K a) gracias a la combinación de un tubo de rayos X de MO/W de doble ánodo y una multicapa de W/Si. También se pueden monocromatizar otros ánodos de rayos X.
- Detector de deriva de silicio refrigerado por Peltier con una resolución de energía mejor que 133 eV (FWHM@MnK a , tiempo de pico de 1 ms )
- Distancia mínima entre la muestra y el detector (montado en el eje normal al plano de la muestra).
- Límites de detección instrumental por debajo de ng/g.
- Accesorio de flujo de helio para mejorar los límites de detección de los elementos ligeros.
- Sin efecto matriz
