GD-Profiler 2™

Descubra un mundo completamente nuevo de información con el espectrómetro de emisión óptica de descarga luminiscente GD-OES.

El GD-Profiler 2 ™ proporciona un análisis rápido y simultáneo de todos los elementos de interés, incluyendo gases como nitrógeno, oxígeno, hidrógeno y cloro.

Es la herramienta ideal para estudios de procesos y caracterización de películas delgadas y gruesas. Equipado con una fuente de RF que puede operar en modo pulsado para el análisis de muestras frágiles.

El campo de aplicaciones del GD-Profiler 2 ™ va desde estudios de corrosión hasta control de proceso de recubrimiento PVD, incluyendo películas delgadas de celdas fotovoltaicas y control de calidad en fabricación de LEDs e investigación avanzada de materiales en Universidades, así como en laboratorios de Investigación Industrial. también aplica para el análisis elemental en la industria de metales.

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Marca:
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  • Generador de RF estándar de Clase E optimizado para tener estabilidad y  forma del cráter, que hace posible un análisis de superficie real.
  • El Generador RF se puede pulsar con adquisición sincronizada para obtener resultados óptimos en muestras frágiles.
  • El uso de una fuente de RF permite el análisis de capas y materiales convencionales y/o no convencionales. así como conductores y no conductores de electricidad.
  • Su óptica simultánea proporciona una cobertura espectral completa de 110 a 800 nm, incluido el ultravioleta profundo para el  análisis de H, O, C, N y Cl.
  • Rejillas o Grating de difracción originales de HORIBA aseguran el mayor rendimiento y resolución de luz para una máxima eficiencia y sensibilidad.
  • Sistema de detección HDD patentada que proporciona velocidad y sensibilidad en la detección sin comprometer el desempeño del sistema.
  • Medición en línea de la profundidad del cráter y la tasa de erosión con interferómetro incorporado patentado.
  • Compartimento de muestras de fácil acceso que ofrece mucho espacio para manipular las muestras.
  • Potente software QUANTUM ™ con herramienta de redacción de informes Tabler.
  • Puntero láser CenterLite (patente pendiente) para la carga precisa de la muestra.
  • Opción de monocromador disponible solo en HORIBA, proporciona la herramienta perfecta para aumentar la flexibilidad del instrumento agregando “n + 1” elementos.
Características
  • Fácil de usar (no requiere alto vacío)
  • Velocidad de erosión en micrones/minuto.
  • Muestras conductoras o no conductoras y recubrimientos.
  • Cuantificación de Perfiles de Profundidad.
  • Cuantificación simultánea en todos los elementos, incluyendo H, O, N y Cl.
  • Resolución de profundidad 1 nm.
  • Modo pulsado de RF para muestras y capas frágiles.
  • Cumplimiento de ISO 14707 Y 16962.
ConstrucciónCorrosiónEducación, instituciones gubernamentalesEnergíaIndustria automotrizIndustria del vidrioMateriales metálicosRecubrimientos

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