Características
- Espectrómetros de fluorescencia de rayos X para análisis de metales, metales preciosos, medición de espesores de recubrimiento y detección de RoHS según DIN ISO 3497 y ASTM B 568
- Incluyen el empleo de detectores semiconductores premium (PIN y SDD), que garantizan una excelente precisión de detección y alta resolución.
- La versión XAN 215 permite el análisis desde Azufre hasta Uranio.
- Las Versiones XAN 250 y 252: incluyen la capacidad para medir elementos ligeros como Al, Si o S.
- Colimador: fijo o de 4 posiciones cambiable, el punto de medición más pequeño aprox. 0.3 mm
- Filtro primario: fijo o de 6 posiciones cambiable
- Soporte de muestra fijo o con una etapa XY manual.
- Cámara de video que facilita la ubicación del punto de medición.
- Capacidad del compartimiento de muestra para aceptar muestras de hasta 17 cm.
