Gracias a su modularidad y a la amplia gama de accesorios y acoplamientos disponibles, Explorer permite realizar mediciones en diferentes configuraciones:
- Difracción de rayos X en polvo (XPD)
- Reflectometría (XRR)
- Difracción de rayos X de incidencia rasante (GIXRD)
- Difracción de rayos X de alta resolución (HRXRD)
- Fluorescencia total de rayos X (TXRF)
- Difracción de rayos X de tensión residual y textura.
La modularidad y flexibilidad del equipo Explorer permiten comenzar con un sistema básico que puede actualizarse para satisfacer las nuevas necesidades del usuario final. GNR ofrece una amplia gama de fuentes de rayos X, ópticas, portamuestras, detectores y configuraciones para satisfacer diversas necesidades analíticas.
Sin límites en sus aplicaciones, el sistema modular Explorer ofrece altas prestaciones en todas las áreas analíticas, desde la cuantificación de fases de mezclas, hasta la determinación de propiedades microestructurales como tensión residual y orientación preferente de cristalitos en materiales a granel así como en películas delgadas.
