GD-Profiler 2™
Referencia: GD-Profiler 2™
Descubra un mundo completamente nuevo de información con el espectrómetro de emisión óptica de descarga luminiscente GD-OES.
El GD-Profiler 2 ™ proporciona un análisis rápido y simultáneo de todos los elementos de interés, incluyendo gases como nitrógeno, oxígeno, hidrógeno y cloro.
Es la herramienta ideal para estudios de procesos y caracterización de películas delgadas y gruesas. Equipado con una fuente de RF que puede operar en modo pulsado para el análisis de muestras frágiles.
El campo de aplicaciones del GD-Profiler 2 ™ va desde estudios de corrosión hasta control de proceso de recubrimiento PVD, incluyendo películas delgadas de celdas fotovoltaicas y control de calidad en fabricación de LEDs e investigación avanzada de materiales en Universidades, así como en laboratorios de Investigación Industrial. también aplica para el análisis elemental en la industria de metales.
- Generador de RF estándar de Clase E optimizado para tener estabilidad y forma del cráter, que hace posible un análisis de superficie real.
- El Generador RF se puede pulsar con adquisición sincronizada para obtener resultados óptimos en muestras frágiles.
- El uso de una fuente de RF permite el análisis de capas y materiales convencionales y/o no convencionales. así como conductores y no conductores de electricidad.
- Su óptica simultánea proporciona una cobertura espectral completa de 110 a 800 nm, incluido el ultravioleta profundo para el análisis de H, O, C, N y Cl.
- Rejillas o Grating de difracción originales de HORIBA aseguran el mayor rendimiento y resolución de luz para una máxima eficiencia y sensibilidad.
- Sistema de detección HDD patentada que proporciona velocidad y sensibilidad en la detección sin comprometer el desempeño del sistema.
- Medición en línea de la profundidad del cráter y la tasa de erosión con interferómetro incorporado patentado.
- Compartimento de muestras de fácil acceso que ofrece mucho espacio para manipular las muestras.
- Potente software QUANTUM ™ con herramienta de redacción de informes Tabler.
- Puntero láser CenterLite (patente pendiente) para la carga precisa de la muestra.
- Opción de monocromador disponible solo en HORIBA, proporciona la herramienta perfecta para aumentar la flexibilidad del instrumento agregando "n + 1" elementos.
CARACTERÍSTICAS
- Fácil de usar (no requiere alto vacío)
- Velocidad de erosión en micrones/minuto.
- Muestras conductoras o no conductoras y recubrimientos.
- Cuantificación de Perfiles de Profundidad.
- Cuantificación simultánea en todos los elementos, incluyendo H, O, N y Cl.
- Resolución de profundidad 1 nm.
- Modo pulsado de RF para muestras y capas frágiles.
- Cumplimiento de ISO 14707 Y 16962.
PLASMA PROFILE TOFMS ™
Este nuevo instrumento combina la velocidad del proceso de erosión Catódica del plasma GD con la rapidez y sensibilidad de un espectrómetro de masas. Proporciona la composición química en función de la profundidad de materiales sólidos. Esta técnica de análisis de perfiles de profundidad consiste en una fuente de plasma de descarga luminiscente erosiona y ioniza material de la muestra acoplado a un ultra rápido espectrómetro de masas.
El PLASMA PROFILE TOFMS ™ ofrece una mayor sensibilidad que la GD-OES y ofrece perfiles isotópicos y moleculares