TX 2000
Referencia: TX 2000
El TX 200 es el espectrómetro de fluorescencia de RX (TXRF, Total Reflection X-Ray Fluorescence).
Con las mejores características para el análisis de trazas y ultra trazas en muestras con multi-elementos, la técnica de TXRF minimiza o elimina el efecto de matriz, permitiendo llevar los límites de detección hasta los niveles de ppbs desde sodio Na hasta plutonio Pu.
- Sin efecto de matriz
- Sin curvas de calibración dependientes de la matriz
- Límites de detección mejorados (LOD) hasta ng/g o menos
- Cantidad mínima de muestra
- Capacidades de microanálisis
- Los motores paso a paso con codificadores ópticos garantizan valores angulares extremadamente precisos.
- Modo de excitación mejorado mediante la selección de la energía monocromada más adecuada (W-La / W-Lb / Mo-Ka) proporcionada por la combinación de tubo de rayos X de doble ánodo MO / W y multicapa W / Si. También se pueden monocromar otros ánodos de rayos X.
- Detector de deriva de silicio refrigerado por Peltier con una resolución de energía mejor que 133eV
- Distancia mínima entre la muestra y el detector.
TX 2000
El TX 200 es el espectrómetro de fluorescencia de RX (TXRF, Total Reflection X-Ray Fluorescence).
Con las mejores características para el análisis de trazas y ultra trazas en muestras con multi-elementos, la técnica de TXRF minimiza o elimina el efecto de matriz, permitiendo llevar los límites de detección hasta los niveles de ppbs desde sodio Na hasta plutonio Pu.
- Sin efecto de matriz
- Sin curvas de calibración dependientes de la matriz
- Límites de detección mejorados (LOD) hasta ng/g o menos
- Cantidad mínima de muestra
- Capacidades de microanálisis
- Los motores paso a paso con codificadores ópticos garantizan valores angulares extremadamente precisos.
- Modo de excitación mejorado mediante la selección de la energía monocromada más adecuada (W-La / W-Lb / Mo-Ka) proporcionada por la combinación de tubo de rayos X de doble ánodo MO / W y multicapa W / Si. También se pueden monocromar otros ánodos de rayos X.
- Detector de deriva de silicio refrigerado por Peltier con una resolución de energía mejor que 133eV
- Distancia mínima entre la muestra y el detector.