CategoriaAplicaciones

Investigación científica

Espectroscopía Raman

AFM-RAMAN

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Espectroscopía de fluorescencia

Catodoluminiscencia

Espectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)

Determinación de oxígeno, nitrógeno e hidrógeno

Elipsometría espectroscópica

Difracción laser para medición del tamaño de las partículas

DLS - Potencial Z

Soluciones de espectroscopía en microscopio estándar (SMS)

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

Resonancia magnética nuclear (de campo alto)

Espectrometría de masas

Aislamiento de vibraciones

Análisis de luz

Control de movimiento para más de 3 dimensiones

Control de movimiento X,Y,Z

Cromatografía de gases

Cromatografía de gases acoplado a masas

Espectroscopía emisión óptica (OES)

Difracción de rayos X - XRD

Fluorescencia de rayos X - TXRF

Laser y fuentes de luz

Preparación de muestras por fusión

Laser y fuentes de luz

Laser y fuentes de luz

Espectroscopía Raman

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Espectroscopía de fluorescencia

Fluorescencia resuelta en el tiempo (LifeTime Fluorescence)

Espectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Determinación de carbono y azufre

Determinación de oxígeno, nitrógeno e hidrógeno

Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículas

Difracción laser para medición del tamaño de las partículas

Análisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)

DLS - Potencial Z

Soluciones de espectroscopía en microscopio estándar (SMS)

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

Resonancia magnética nuclear (de campo alto)

Espectrometría de masas

Baño termostático

Bituminosos

Calorimetría

Cromatografía de gases

Cromatografía de gases acoplado a masas

Automuestreadores

Cromatografía liquida

Fluorescencia de rayos X - TXRF

Laser y fuentes de luz

Gama en línea

Gama Newlab

Gama Oilab

Generador de vapor

GLP

Grasas y aceites lubricantes

Hidrómetros

Horno

Medición de azufre

Medición de humedad por microondas

Microfluidizadores

Difracción de rayos X - XRD

Viscosimetría

Laser y fuentes de luz

Espectroscopía de fluorescencia

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Espectroscopía Raman

Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Análisis de metales en aceites Rotroil

Difracción de rayos X - XRD

Espectroscopía emisión óptica (OES)

Determinación de carbono y azufre

Determinación de oxígeno, nitrógeno e hidrógeno

Espectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Espectroscopía Raman

Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)

Medición de espesor y metales preciosos por fluorescencia de rayos X (EDX-RF)

Maquina universal de ensayos

Medición de dureza

Medición de espesor por inducción magnética (Inducción magnética, corriente de Foucault)

Medición de espesor por ultrasonido

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Péndulos de impacto Charpy

Preparación de muestras para metalografía

Laser y fuentes de luz

Automuestreadores

Análisis de luz

Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículas

Análisis de seguimiento de nanopartículas (NTA)

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