HORIBA

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

La microscopía de fuerza atómica (AFM) permite obtener imágenes de superficies a escala nanométrica y medir propiedades mecánicas y topográficas. Es fundamental en nanotecnología, biología, ciencia de materiales y investigación de superficies. Los resultados proporcionan información detallada sobre rugosidad, adhesión, elasticidad y estructura molecular, facilitando desarrollo de materiales y optimización de procesos con alta precisión.

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