Semiconductores

Aislamiento de vibraciones

Análisis de imagen - Tamaño y forma de las partículas

Difracción laser para medición del tamaño de las partículas

Laser y fuentes de luz

AFM-RAMAN

Determinación de carbono y azufre

Determinación de oxígeno, nitrógeno e hidrógeno

Elipsometría espectroscópica

Espectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)

Espectroscopía emisión óptica (GD-OES)

Espectroscopía Raman

Fluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

Microscopía electrónica de transmisión (TEM)