Volver a aplicaciones ELECTRÓNICA Y FOTÓNICA Aislamiento de vibracionesAnálisis de luzDifracción laser para medición del tamaño de las partículasControl de movimiento para más de 3 dimensionesControl de movimiento X,Y,ZDifracción de rayos X - XRDLaser y fuentes de luzAFM-RAMANFluorescencia resuelta en el tiempo (LifeTime Fluorescence)Soluciones de espectroscopía en microscopio estándar (SMS)Determinación de carbono y azufreElipsometría espectroscópicaEspectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)Espectroscopía de fluorescenciaEspectroscopía emisión óptica (GD-OES)Espectroscopía RamanFluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Microscopía de fuerza atómica (AFM)Microscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)