Volver a aplicaciones ANÁLISIS FORENSE Espectrometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES)Espectroscopía RamanFluorescencia de rayos X por dispersión de energía (EDXRF)Microscopía de fuerza atómica (AFM)Cromatografía de gasesCromatografía de gases acoplado a masasFluorescencia de rayos X - TXRFMicroscopía electrónica de barrido (SEM)Microscopía electrónica de transmisión (TEM)