CARACTERÍSTICAS

  • Fácil de usar (no requiere alto vacío)
  • Velocidad de erosión en micrones/minuto.
  • Muestras conductoras o no conductoras y recubrimientos.
  • Cuantificación de Perfiles de Profundidad.
  • Cuantificación simultánea en todos los elementos, incluyendo H, O, N y Cl.
  • Resolución de profundidad 1 nm.
  • Modo pulsado de RF para muestras y capas frágiles.
  • Cumplimiento de ISO 14707 Y 16962.

PLASMA PROFILE TOFMS ™

Este nuevo instrumento combina la velocidad del proceso de erosión Catódica del plasma GD con la rapidez y sensibilidad de un espectrómetro de masas. Proporciona la composición química en función de la profundidad de materiales sólidos. Esta técnica de análisis de perfiles de profundidad consiste en una fuente de plasma de descarga luminiscente erosiona y ioniza material de la muestra acoplado a un ultra rápido espectrómetro de masas.

El PLASMA PROFILE TOFMS ™ ofrece una mayor sensibilidad que la GD-OES y ofrece perfiles isotópicos y moleculares

GD-Profiler 2™