SYS INGENIERIA SAS

GNR ANALYTICAL INSTRUMENTS GROUP

Fluorescencia de Rayos X - TXRF

TXRF se basa en los mismos principios del EDXRF sin embargo presenta, una diferencia significativa. En contraste con EDXRF, donde el haz primario golpea la muestra en un ángulo de 45°, el TXRF usa un ángulo de vista de unos pocos miliradianes.

Debido a esta incidencia el haz primario es reflejado totalmente esto hace que la absorción se evite en gran medida y la dispersión asociada se reduzca considerablemente, disminuyendo también el ruido de fondo el rudo de fondo también se ve reducido como resultado de la mínima cantidad de muestra que es usada para el análisis de 5 a 100 microlitros de la sustancia a analizar disuelta en un solvente apropiado, sobre un porta muestra de silica, lo al evaporarse el solventa deja una película de unas pocos nanómetros sobre el porta muestra. En general la técnica Analítica es no destructiva y es apropiada para sólidos, líquidos y aleaciones.

TX 2000

TX 200 es el espectrómetro de fluorescencia de RX (TXRF, Total Reflection X-Ray Fluorescence). Con las mejores características para el análisis de trazas y ultra trazas en muestras con multi-elementos, la técnica de TXRF minimiza o elimina el efecto de matriz, permitiendo llevar los límites de detección hasta los niveles de ppbs desde sodio Na hasta plutonio Pu.